相位像：當樣品薄至100Å以下時，電子可以傳過樣品，波的 振幅變化可以忽略，成像來自於相位的變化。
穿透式電子顯微鏡的應用
穿透式電子顯微鏡的電子束穿透樣品時，一部份電子會直接穿透，另一 部分會產生繞射電子束。直射電子束與繞射電子束相互干涉後，會產生 晶格像〈lattice image〉，可分析材料中的晶體結構及缺陷狀態。
Pollen
Hale Waihona Puke 參考資料.tw/Publication/Newsletter/no97/p12.php /zhhk/%E9%80%8F%E5%B0%84%E7%94%B5%E5%AD%90%E6%98%BE%E5 %BE%AE%E9%95%9C /atomic_world/tem/tem02_c.html .tw/khvic/JL/57.htm .tw/puam/7_Honor/celebrate/celebrate6/neo n/group06/ch05/ch05_02.htm
掃瞄式電子顯微鏡的應用
掃瞄式電子顯微鏡中的電子束直接撞擊試片表面，因試片表面凹凸結 構，造成二次電子產生量不同，從而可在螢光幕上觀察到立體形態的成 像，並可據此判斷粒子大小、粒徑分布、粒子形貌、分散狀態等。
電子顯微鏡下的圖片
紅血球
Butterfly Wing
電子顯微鏡下的圖片
Olive Leaf
END
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穿透式電子顯微鏡的原理
穿透式電子顯微鏡的原理有點像一個幻燈片投影機。 投影機利用光線照射幻燈片，幻燈片上的圖案只容許 部分光線通過。於是透射的光線便複製了幻燈片上的 圖案，投影至屏幕。
穿透式電子顯微鏡成像原理
穿透式電子顯微鏡的成像原理可分為三種情況： 吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作 用是散射作用。 繞射像：電子束被樣品繞射後，樣品不同位置的繞射波振幅 分佈對應於樣品中晶體各部分不同的繞射能力。
掃描式電子顯微鏡的原理
由電子源發射出電子後，在真空電子槍下，經由掃瞄線圈，使電子束於試 片室內對試片表面作掃瞄，掃瞄之區域愈大則顯示於螢幕上之倍率愈小， 反之則愈大。
掃描式電子顯微鏡的成像原理
掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5∼30 kV之電 子束掃描試片的表面，接收表面產生之訊號(包括二次電 子、背向反射電子、吸收電子、X射線等)以顯現試片圖形之 影像。
電子顯微鏡原理
班級:微電三甲 學生:4973a057黃昭穎 4973a058蘇暐倫 指導老師:方信普
目錄



電子顯微鏡原理 電子顯微鏡的種類 穿透式電子顯微鏡的原理 穿透式電子顯微鏡成像原理 掃描式電子顯微鏡的原理 掃描式電子顯微鏡的成像原理
電子顯微鏡原理
電子顯微鏡系統由電子槍 (electron gun) 發射電子束，經過一 組磁透鏡 (condenser lens) 聚焦後，用遮蔽孔徑(condenser aperture)選擇電子束的尺寸 (beam size)，通過控制電子束的掃 描線圈，再透過物鏡 (objective lens) 聚焦打在試片表面，激 發出電子訊號。
.tw/puam/7_Honor/celebrate/celebrate6/neon/group 06/ch05/ch05_01.htm
/2005/07/blog-post_24.html http://www.eyeofscience.de/
電子顯微鏡的種類
(1)掃描式電子顯微鏡(SEM)
有很大的景深，對粗糙的表面，例如凹凸不平的金屬斷面顯示得 很清楚，而且立體感很強。
電子顯微鏡的種類
(2)穿透式電子顯微鏡(TEM)
穿透式電子顯微鏡將欲觀察的試片放在電子槍內，使觀察的解析 度比掃描式高，但因為電子束須穿透試片，所以所需的加速電壓 相對比掃描式電子顯微鏡來的高。