JBT 4730-2005承压设备无损检测1 范围JB/T 4730的本部分规定了射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测五种无损检测方法的一般要求和使用原则。

本部分适用于在制和在用金属材料制承压设备的无损检测。

2 规范性引用文件下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部分的引用而成为本部分的条款。

凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB/T 12604.1 无损检测术语超声检测GB/T 12604.2 无损检测术语射线检测GB/T 1 2604.3 无损检测术语渗透检测GB/T 12604.4 无损检测术语声发射检测GB/T 12604.5 无损检测术语磁粉检测GB/T 12604.6 无损检测术语涡流检测GB 17925—1999 气瓶对接焊缝x射线实时成像检测GB/T 18182—2000 金属压力容器声发射检测及结果评价方法GB/T 19293—2003 对接焊缝x射线实时成像检测法JB/T 4730.2 承压设备无损检测第2部分:射线检测JB/T 4730.3 承压设备无损检测第3部分:超声检测JB/T 4730.4 承压设备无损检测第4部分:磁粉检测JB/T 4730.5 承压设备无损检测第5部分:渗透检测JB/T 4730.6 承压设备无损检测第6部分:涡流检测国家质量监督检验检疫总局国质锅检字[2003]248号文特种设备无损检测人员考核与监督管理规则。

3术语和定义GB/T 12604.1～12604.6规定的、以及下列术语和定义适用于JB/T 4730的本部分。

3.1公称厚度T nominal thickness受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄。

3.2透照厚度W penetrated thickness射线照射方向上材料的公称厚度。

多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。

3.3工件至胶片距离b object-to-film distance沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。

3.4射线源至工件距离f source-to-object distance沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间的距离。

3.5焦距F focaldistance沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。

3.6射线源尺寸d source size射线源的有效焦点尺寸。

3.7管子直径D。

external diameter of the pipe管子的外径。

3.8圆形缺陷 roundflaw长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。

3.9条形缺陷 stripy flaw长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。

3.10透照厚度比K ratio of max.and min.penetrated thickness一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比。

3.11小径管 small diameter tube外直径Dn小于或等于lOOmm的管子。

3.12底片评定范围 film evaluation scope本部分规定底片上必须观测和评定的范围。

3.13缺陷评定区 defect evaluation zone在质量分级评定时,为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域。

可以是正方形或长方形。

3.14超声标准试块 ultrasonic calibration blockJB/T 4730.3规定的用于超声仪器探头系统性能校准和检测校准的试块。

3.15超声对比试块 ultrasonic reference block用于超声检测校准的试块。

3.16密集区缺陷a cluster offlaws在荧光屏扫描线相当于50mm声程范围内同时有5个或5个以上的缺陷反射信号；或是在50mm×50mm的检测面上发现在同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号。

其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅。

3.17由缺陷引起的底波降低量BG/BF(dB) loss ofback reflection caused by flaws BG/BF(dB) 在靠近缺陷处的无缺陷完好区域内第一次底波幅度BG与缺陷区域内的第一次底波幅度BF之比，用声压级(dB)值来表示。

3.18基准灵敏度和扫查灵敏度 basic sensitivity and scanning sensitivity基准灵敏度一般指的是记录灵敏度，它通常用于缺陷的定量和缺陷的等级评定。

扫查灵敏度则主要指实际检测灵敏度。

3.19缺陷自身高度 flaw height(thru-wall dimension)缺陷在壁厚方向的尺寸。

3.20聚焦探头 focusing probes采用透镜式、反射式和曲面晶片等聚焦方法使超声波束会聚以提高检测灵敏度的超声探头。

3.21端点衍射 tip diffraction超声波在传播过程中，当波阵面通过缺陷时，波阵面会绕缺陷边缘弯曲，并呈圆心展衍，这种现象称之为端点衍射。

3.22端点最大反射波 maximum tip reflected wave当缺陷的端部回波的幅度达到最大时(也即缺陷端部回波峰值开始降落前瞬时的幅度位置)，该回波称为缺陷端点最大反射波。

3.23回波动态波型 echodynamic patterns动态波型是探头移动距离与相应缺陷反射体回波波幅变化的包络线。

3.24相关显示 relevant indication磁粉检测时由缺陷(裂纹、未熔合、气孔、夹渣等)产生的漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，或渗透检测时由缺陷产生的渗透剂显示，通常称之为相关显示。

一般也叫做缺陷显示。

3.25非相关显示 non-relevant indication由磁路截面突变以及材料磁导率差异等原因产生的漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，或是由于加工工艺、零件结构、外形或机械损伤等所引起的渗透剂显示，通称为非相关显示。

3.26伪显示 false indication不是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，也叫假显示。

3.27切线磁场强度 tangential magnetic field strength平行于被检工件表面的磁场强度分量。

3.28交叉磁轭 cmssed yoke在同一平面(或曲面)上，由具有一定相位差(不等于0°或180°)而且相互交叉成一定角度(不等于0°或180°)的两相正弦交变磁场相互叠加而在该平面(或曲面)上产生旋转磁场的磁粉检测设备。

3.29环境可见光 environment VisibIe light在暗区，黑光照射下从工件表面测得的可见光照度。

3.30背景 background渗透检测时，衬托渗透剂显示的工件表面，一般是覆盖显像剂的表面，也可以是自然表面。

3.31虚假显示 false indication由于渗透剂污染等所引起的渗透剂显示。

3.32评定 evaluation对观察到的渗透相关显示进行分析，确定产生这种显示的原因及其分类过程。

3.33涡流检测线圈 eddy current coil涡流检测时，外穿过式线圈、内插式线圈和放置式线圈的统称。

3.34放置式线圈 probe coil放置式线圈是放置于被检试件表面上实施检测的线圈。

可以是单线圈，也可以是双线圈；可以接成绝对式，也可接成差动式(自比差动、他比差动)；可以做成扇形、平面形和点状等形状。

3.35磁饱和装置 magnetic saturation system是指在被检工件上施加强磁场，使工件在被检测区域饱和磁化的装置。

3.36远场涡流检测 remote field eddy current testjng一种穿透金属管壁的低频涡流检测技术。

3.37涡流检测探头 eddy current probe用于激励和接收涡流信号的装置。

4 使用原则4.1 概述4.1.1 应根据受检承压设备的材质、结构、制造方法、工作介质、使用条件和失效模式，预计可能产生的缺陷种类、形状、部位和方向，选择适宜的无损检测方法。

4.1.2 射线和超声检测主要用于承压设备的内部缺陷的检测；磁粉检测主要用于铁磁性材料制承压设备的表面和近表面缺陷的检测；渗透检测主要用于非多孔性金属材料和非金属材料制承压设备的表面开口缺陷的检测；涡流检测主要用于导电金属材料制承压设备表面和近表面缺陷的检测。

4.1.3 铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。

4.1.4 当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。

4.1.5 采用同种检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。

4.2 射线检测4.2.1 射线检测能确定缺陷平面投影的位置、大小,可获得缺陷平面图像并能据此判定缺陷的性质。

4.2.2 射线检测适用于金属材料制承压设备熔化焊对接焊接接头的检测，用于制作对接焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。

射线检测不适用于锻件、管材、棒材的检测。

T型焊接接头、角焊缝以及堆焊层的检’坝0一般也不采用射线检测。

4.2.3 射线检测的穿透厚度，主要由射线能量确定，参见表1。

表1 不同射线源检测的厚度范围4.2.4 当应用γ，射线照相时，宜采用高梯度噪声比(T1或T2)胶片；当应用高能x射线照相时，应采用高梯度噪声比的胶片；对于R M>540MPa的高强度材料对接焊接接头射线检测，也应采用高梯度噪声比的胶片。

4.2.5 射线检测的具体要求应符合JB/T 4730.2的规定。

4.3 超声检测4.3.1 超声检测通常能确定缺陷的位置和相对尺寸。

4.3.2 超声检测适用于板材、复合板材、碳钢和低合金钢锻件、管材、棒材、奥氏体不锈钢锻件等承压设备原材料和零部件的检测；也适用于承压设备对接焊接接头、T型焊接接头、角焊缝以及堆焊层等的检测。

4.3.3 采用超声直(斜)射法检测内部缺陷。

不同检测对象相应的超声厚度检测范围见表2。

表2 不同检测对象相应的超声厚度检测范围4.3.4 超声检测的具体技术要求应符合JB/T 4730.3的规定。

4.4 磁粉检测4.4.1 磁粉检测通常能确定表面和近表面缺陷的位置、大小和形状。

4.4.2 磁粉检测适用于铁磁性材料制板材、复合板材、管材以及锻件等表面和近表面缺陷的检溟4；也适用于铁磁性材料对接焊接接头、T型焊接接头以及角焊缝等表面和近表面缺陷的检测。

磁粉检测不适用非铁磁性材料的检测。

4.4.3 磁粉检测的具体技术要求应符合JB/T 4730.4的规定。