缺點
須經常抽樣並予以測定與計算, 且需點上 管制圖, 較為麻煩且費時.
計 數 值
4.管制圖 4.管制圖
依管制圖之用途分類
解析用管制圖:此种管制圖先有數据,后有管制 解析用管制圖 界限. 決定方針用/制程解析用/制程能力研究用/制 程管制之准備 管制用管制圖:先有管制界限,后有數据. 管制用管制圖 用于控制制程之品質.
9940 W/B生產不良統計
W/B
U 15產 出 狀 況 集 計 表 15 產
DATE
1 2 3 4 5 6 投入量 28690 26270 28190 28590 26620 28520 不良量 10 40 150 80 60 20 產出量 0.03% 0.15% 0.53% 0.28% 0.23% 0.07%
DEF RAT E 0.20% 0.20% 0.20% 0.20% 0.20% 0.20%
2.統計製程管制架構與步驟 統計製程管制架構與步驟
2.6. 製程能力分析 以CP >= 1.33來要求短期的製程穩定 另以 製程能力分析: 來要求短期的製程穩定, 來要求短期的製程穩定 另以CPK >= 1.33來 來 要求長期的製程能力 長期的製程能力. 要求長期的製程能力 2.7. 製程效率之研究 是在真正以管制圖來監督生產程序經過一皆段的研究後 製程效率之研究: 所得的資料, 可真正用來從事工作的改善. 所得的資料 可真正用來從事工作的改善 2.8. 問題解決 可依循問題分析 提供對策 驗證效果及標準化來進行 問題解決: 可依循問題分析, 提供對策, 驗證效果及標準化來進行. 2.9.製程管制 流程如下 製程管制: 製程管制
P 管制圖(樣本數不同) 樣本數不同)
P管制圖（不良率管制圖）的做法﹕ 管制圖（不良率管制圖）的做法﹕ 先收集近期內的產品﹐分組算出不良率﹒ （1）先收集近期內的產品﹐分組算出不良率﹒ pi/ni=不良個數 不良個數／ P＝pi/ni=不良個數／總檢查數 平均不良率P 總不良數/ （2）平均不良率P ＝ ΣPn/ΣN＝ 總不良數/總檢查數 (3)計算管制線 (3)計算管制線 中心線CL=P 中心線CL=P 上管制限UCL=P+3 P(1上管制限UCL=P+3 P(1-P)/n 下管制限LCL=P LCL=P- P(1下管制限LCL=P-3 P(1-P)/n
3. 製程管制流程
定義製程 決定產品特性 決定測量品質 特性之能力 製程能力分析
CPK ≥ 1.3
CPK<1.3
改善製程
CPK<1
製程效率研究 製程效率研究
CPK ≥ 1
改善技術或 調查已改善 的測量元件
非管制狀態
管制圖
管制狀態
繼續運作
採取改善行動
4.管制圖 4.管制圖
一种以實際產品的品質特性, 一种以實際產品的品質特性,与依 過去經驗所有形研判之制程能力的 管制界限比較,而以時間順序, 管制界限比較,而以時間順序,用圖 表示. 形表示.
抽取樣本
4.管制圖 4.管制圖
對策措施 檢驗 管制圖的實施循環 原因分析 從上圖可以看 出﹐管制圖的實施 步驟是﹕抽取樣 本﹐進行檢驗﹐將 制程異常 檢驗的結果畫制于 管制圖上﹐再從管 制圖來判斷﹐工程 是否正常﹐如為不 正常即應采取必要 的矯正措施﹒ 制 程 正 常
將結果 繪管制圖
制程 是否異 常判別
1-2 SPC之目標 SPC之
管制製程, 區分變異, 並在不良品生產前, 將問題予以解決. 管制製程 區分變異 並在不良品生產前 將問題予以解決
1-3 品質變異的机遇原因與非机遇原因
机遇原因: 又稱正常原因. 是原料, 機械, 人員, 方法在標準範圍內的變化, 机遇原因 又稱正常原因 是原料 機械 人員 方法在標準範圍內的變化 因 係由微小原因所引起,引起之變化因而相當微小 是一種正常變化, 引起之變化因而相當微小. 係由微小原因所引起 引起之變化因而相當微小 是一種正常變化 其變化是 不可避免的. 不可避免的 非机遇原因﹕可避免之原因﹑人為原因﹑特殊原因﹑不正常原因 異常原因﹑ 非机遇原因﹕可避免之原因﹑人為原因﹑特殊原因﹑不正常原因, 異常原因﹑ 局部原因等等﹒ 局部原因等等﹒
采用X-R 每組標准差 S是否可以 計算
Y
采用X-S
N
采用X-R
X-R管制圖
X主要管制組間(不同組)的平均值變化. R 主要管制各組內(同一組樣品)的范圍變化. .管制界限的計算. 管制界限的計算. 管制界限的計算 X圖 X=x1+x2+…xn/n X= x1+x 2+…x k/K 中心線（CL）＝X 上限（UCL）＝ X+A2 R 下限(LCL)= X-A2 R
1.統計製程管制理念與作法 統計製程管制理念與作法
1-4 管制界限之選擇 1-4-1 若机遇原因之因素所造成的成本高﹐可考慮使用較寬之管制界限﹐反 若机遇原因之因素所造成的成本高﹐可考慮使用較寬之管制界限﹐ 采取較窄之管制界限﹒ 之﹐采取較窄之管制界限﹒ 1-4-2 若生產之不良產品其輸出后果之成本很大﹐則非机遇原因較為重要﹐ 若生產之不良產品其輸出后果之成本很大﹐則非机遇原因較為重要﹐ 故需考慮使用較窄之管制圖﹒ 故需考慮使用較窄之管制圖﹒ 1-4-3 若机遇與非机遇原因均為重要﹐則可采用較寬之管制界限﹐惟減少非 若机遇與非机遇原因均為重要﹐則可采用較寬之管制界限﹐ 机遇原因冒險應考慮抽樣較多的樣本﹒ 机遇原因冒險應考慮抽樣較多的樣本﹒ 1-4-4 如按以往經驗超出管制界限情形很多時﹐則使用較窄之管制界限為 如按以往經驗超出管制界限情形很多時﹐ 反之﹐則使用較寬之管制界限﹒ 佳﹒反之﹐則使用較寬之管制界限﹒
（
X-R管制圖
(4）記入數據表內（入圖）﹒ (4）記入數據表內（入圖） （ 5）計算每組平均值X﹒ 計算每組平均值X （ 6）計算每組全距R﹒ 計算每組全距R （ 7）計算總平均值 X﹒ （ 8）計算每組全距平均值 R﹒ （ 9）計算管制界限值. 計算管制界限值. （ 10)例子 10)例子
X圖 中心線 CL = X 上限 (UCL)= X+A2 R 下限 R圖 CL=R UCL=D4R
4.管制圖 4.管制圖
1.品質變异之形成原因: 1.品質變异之形成原因: 品質變异之形成原因 偶然(机遇)原因:不可避免的原因,共同性 偶然(机遇)原因:不可避免的原因, 原因,一般性原因,是屬于管制狀態的變异. 原因,一般性原因,是屬于管制狀態的變异. 异常(非机遇)原因:可避免的原因, 异常(非机遇)原因:可避免的原因,人為原 特殊性原因,必有追查原因, 因,特殊性原因,必有追查原因,采取必要 行動,使制程恢复正常管制狀態. 行動,使制程恢复正常管制狀態.
X-R管制圖
(三)X-R管制圖 )XR圖 R1:第一組內最大減最 小 上限（UCL）＝D4R 下限（LCL）＝ 4 5 6 7
A2 1.88 1.023 0.729 0.577 0.483
D3
D4 3.27 2.58 2.28 2.12 2
0.419 0.076 1.924
計量值與計數值管制圖優缺點比較
優點 計 量 值
1. 用於製程管制 , 時間上甚靈敏, 容易調查原因, 並預測故障的發生. 2. 及時並正確地找出事故發生的 真正原因, 使品質穩定‘ 1. 生產完成後才加入抽樣, 並將其 分良品與不良品, 因此實際所需之 資料, 能以簡單的檢查方法得知. 2. 對工廠整個品質情況了解非常方 便. 1. 調查事故發生原因較費時. 2. 有時以製成相當多不良品, 而無法及 時處理之情況. 3. 只靠此種管制圖有時無法尋求事故發 生的真正原因.
4.管制圖 4.管制圖
2﹑計數值管制圖 用于非可量化的產品特性﹐如不良數﹑缺點數等 間斷性數據﹒有﹕ P-Chart:不良率管制圖 Pn-Chart:不良數管制圖 C- Chart: 缺點數管制圖 U- Chart: 單位缺點數管制圖 其中以P-Chart應用最廣. 初學管制圖,可以先從 X -R圖及P-Chart的使用開 始,等熟練以后再視需要使用其他的圖.
X－R管制圖抽樣參考表
每小時 生產量 ＜ 10 10－ 19 20－ 49 50－ 99 ＞＝ 100 抽樣間隔 不穩定 穩定 8小時 8小時 4小時 8小時 2小時 8小時 1小時 4小時 1小時 2小時 樣本大小 4－ 5 4－ 5 4－ 5 4－ 5 4－ 5
X-R管制圖
管制製作法
步驟﹕
1）收集最近與今后制程相似的數據約 100個 100個﹒ （ 2）依測定時間或群体區分排列﹒ 依測定時間或群体區分排列﹒ （ 3）對數據加以分組﹐把2－6個數據分 對數據加以分組﹐ 為一組﹒ 為一組﹒ 組內的個別數據以n表示﹒ ﹒組內的個別數據以n表示﹒ 分成几組的個別組數以K表示﹒ ﹒分成几組的個別組數以K表示﹒ 剔除異常數據﹒ 剔除異常數據﹒
1. 統計製程管制(SPC)理念與作法 統計製程管制 理念與作法
1-1 SPC(Statistical Process Control)之基本假設 之基本假設
只有穩定且在管制狀態的製程, 才能生產出合乎品質要求的產品, 只有穩定且在管制狀態的製程 才能生產出合乎品質要求的產品 所以SPC是在生產過程中檢查產品品質並辨認其形成不良品的原 所以 是在生產過程中檢查產品品質並辨認其形成不良品的原 因.
(LCL)= X-A2 R LCL= D3R
X-R管制圖
划出管制界限﹒ (10)划出管制界限﹒ 所定的方格最好能在上下限間隔約 20~30mm較合适 較合适﹒ 20~30mm較合适﹒ 11） （11）打上點記號 點與點（組与組）距离2~5mm 2~5mm較合 點與點（組与組）距离2~5mm較合 适﹒在管制界限內的點以●為記,在管制 在管制界限內的點以●為記, 為記. 界限外以 ⊕為記. (12)記如入其它有關事項 記如入其它有關事項. (12)記如入其它有關事項. (13)檢討制程能力 檢討制程能力. (13)檢討制程能力.