1 2 4 5 A B Y Y电压(V) LL L L HL L L
HH L L HH H L HH HH LH LH
3、逻辑门传输时间的测试
实验操作
构成以下电路：输入200KHZ的连续脉冲，用双踪示波器 测量输入输出相位差。计算每个门的平均延迟时间的TPD 值。
注： 1 t pd 2 (tPHL tPLH )
作为实验接线图。 3. 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好
测试数据。分析、确认实验结果的正确性，说明实验 结论。 4. 在实验总结中写上实验中遇到的问题，解决办法，体 会、建议等，要求简洁、务实，不用套话。
① 门电路逻辑功能测试 ② 异或门逻辑功能测试 ③ 逻辑门传输延迟时间测量 ④ 利用与非门控制输出
实验内容
实验芯片介绍
实验原理
1、测试门电路逻辑功能
与非门的功能测试HH
实验操作
操作说明
实验操作
2、异或门逻辑功能测试
实验操作
选用74LS86两只按图接线， 测量并记录数据：
非门传输延迟时间tpd的值为几纳秒～十几个纳秒。
4、利用与非门控制输出
实验操作
用一片7400构成以下电路，S接任何一个电子开关，用示 波器观察S对输出脉冲的控制作用，记录波形图。
测试电路
图6-3－6 （1）电
路
图6-3－6 （2）电
路
控制端状 态 S=0
S=1
S=0
S=1
输出 Y
分析解释实验结果
注意事项
实验原理
平均延迟时间：
1 t pd 2 (tPHL tPLH )
平均延迟时间的大小反映了TTL门的开关特性，主要说明门 电路的工作速度。 导通延迟时间tPHL-从输入波形上升沿的中点到输出波形下降 沿的中点所经历的时间。 截止延迟时间tPLH——从输入波形下降沿的中点到输出波形上 升沿的中点所经历的时间。 与非门的传输延迟时间tpd是tPHL和tPLH的平均值。一般TTL与
每次实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选 择实验用的集成电路芯片，按自己设计的实验接 线图接好连线，特别注意Vcc(电源)及GND(地线) 不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。 实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电 实验。
精品课件！
精品课件！
报告要求
1. 实验目的、内容、画出逻辑电路图。 2. 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，