基于飞纳扫描电镜的颗粒分析解决方案 ParticleMetric 能够使用户根据需要，随时获取所观测颗粒的面积、当 量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比、充实度、伸长率、灰度等级、长轴、短轴长度（椭圆）、 凸壳体、重心、像素点数、凸状物等数据，最终实现 ParticleMetric 加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。
散点选择的截图 4. 直接由 Phenom 获取图像，识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒，关联颗粒物的特征，比如直径、充
实度、纵横比和凹凸度 5. 便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化 6. 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考 7. Phenom 的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化 8. 附有高清图片的统计学数据。
飞纳扫描电镜颗粒系统软件 ParticleMetric 的功能
1. 可进行以下颗粒分析 颗粒尺寸范围：100nm ~ 0.1mm 颗粒探测速度：高达 1000 个/分钟 颗粒测量属性：大小、形状、数量 2. 可以测量的颗粒参数 面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比 充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度（椭圆） 凸壳体、重心、像素点数、凸状物。 3. 可以提供的图形显示 按数量或体积的线性、对数、双对数点状图
配合 ParticleMetric 软件使用干粉分散器可以为用户 提供的好的颗粒分析结果。 Nebula 1 参数 粉末尺寸范围：0.1~1500μm 分散真空度范围：0~0.8Bar 压力设置精度：0.05Bar 尺寸和重量 规格：390(长)×210(宽)×350(高)，8.5kg 隔膜泵：1450(长)×220(宽)×213(高)，4.5kg
自动测量 数据报告生成便捷
以 Pro Suit 为运行平台 干粉分散器
台式扫描电镜颗粒测试系统 Phenom ParticleMetric —— 颗粒和粉末微观特征分析
使用基于 Phenom 飞纳台式扫描电镜的 ParticleMetric 颗粒测试系统，以最快、最简便的方式实现颗粒的可 视化分析，是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的 Phenom 飞纳扫描电镜，加上 Partic分析颗粒和粉末试样的强大工具。
任何指定参数的散点图 单个颗粒的 SEM 图像 4. 可以提供的图形输出 Word 版本 docx 格式的报告，TIFF 格式的图像 CSV 文件，离线分析的项目文件（.PAME）Pro Suite 的一部分
飞纳扫描电镜颗粒系统 ParticleMetric 软件
1. 加载 ParticleMetric 软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像，方便用户采集超细颗粒的形貌信息和 颗粒的尺寸数据； 2. 全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统 ParticleMetric 软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果， 为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据； 3. ParticleMetric 软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照指定格式输出。任何柱状图都可以按照被 测颗粒的不同属性，生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成，以便揭示相关联系 和趋势。
颗粒系统 ParticleMetric 软件适合的应用领域
化妆品行业 食品行业 化工行业 制药行业 陶瓷 颗粒以及表面涂层 颗粒状添加剂 环境颗粒 过滤器/筛网公司
配合高倍拼图软件，可实现全样品颗粒分析
颗粒分散设备 NEBULA 1
用 Nebula 1 可以在 SEM 样品台上实现干粉均匀分 散，可以获取单层颗粒，同时避免颗粒的团聚，保持 脆性颗粒的结构完整，为用户提供最佳制样方法。