一种“边沿检测电路”和“脉宽检测电路”的设计方法
关于“边沿检测电路”和“脉宽检测电路”有很多设计方法，以下是一种比较常见的设计方法，大部分的“边沿检测电路”和“脉宽检测电路”都是分别以这两种电路为基础实现的，也是我们在芯片设计中经常采用的方法：
（1）边沿检测电路
上图给出的是一种下降沿检测电路，当输入有下降沿出现时，输出则会产生一个高脉冲，脉冲的宽度由非门构成的延时电路决定。

（2）脉宽检测电路
上图给出的则是一种脉宽检测电路，和边沿检测电路的原理相同，也是利用了非门构成的延时电路。

该图给出的是负脉冲宽度检测电路，只有负脉冲的宽度大于一定的值时，才能输出一个高脉冲。

这个最小脉宽由非门构成的延时电路决定，而输出的高脉冲宽度则是输入脉冲宽度与最小脉宽之差。

通常我们在实际的设计中不只利用非门本身的延时，如果需要的延时比较大时，可以在非门后加一些电容。

利用这两个电路为基础，我们很容易就扩展出“上升沿检测”、“正脉冲宽度检测”，“高脉冲输出”还是“低脉冲输出”。

甚至可以扩展出功能可配置的检测电路。

当输入负脉冲宽度大于四个非门的延迟时间宽度输出才有高电平出现
当输入正脉冲大于四个非门的延迟时间宽度输出才有高电平出现。