印制线路板CAF失效分析
作者：汪洋， 莫芸绮， 聂昕， 何波， 关健， 万永东， 徐玉珊， 吴向好
作者单位：汪洋,聂昕(信息产业部电子第五研究所可靠性分析中心)， 莫芸绮(电子科技大学应用应用化学系)， 何波,关健,万永东,徐玉珊,吴向好(珠海电子科技股份有限公司技术中心)
1.期刊论文聂昕.汪洋.莫云绮.何为.NIE Xin.WANG Yang.MO Yun-qi.HE Wei印制电路板的CAF生长案例分析与控
制对策-印制电路信息2008(7)
文章通过对CAF生长机理以及失效案例的分析,介绍由于CAF生长给电子产品可靠性带来的潜在风险,并且提出了控制CAF生长,提高电子产品的质量与可靠性的措施.
2.会议论文聂昕印制电路板的CAF生长案例分析与控制对策2007
本文通过对CAF生长机理以及失效案例的分析，介绍由于CAF生长造成两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至短路，给电子产品可靠性带来的潜在风险的过程，并且提出了控制CAF生长，由此而提高电子产品的质量与可靠性的措施。

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下载时间：2011年1月12日。