分类号 密级

UDC

学 位 论 文

TO220自动测试分选机软件研发与人机界面设计

（题名和副题名）

易华波

（作者）

指导教师 康波 副教授

电子科技大学 成 都

胡泽 高级工程师

深爱半导体 深 圳

（职务、职称、学位、单位名称及地址）

申请专业学位级别 硕士 专业学位类别 工程硕士

工程领域名称 软 件 工 程

提交论文日期 2010.08 论文答辩日期 2010.12

学位授予单位和日期 电 子 科 技 大 学

答辩委员会主席

评阅人

2010年8月 日

注1：注明《国际十进分类法UDC》的类号

独 创 性 声 明

本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知，除了文中特别加以标注和致的地方外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果，也不包含为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示意。

签名： 日期： 年 月 日

关于论文使用授权的说明

本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文的规定，有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘，允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全部或部分容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。

（的学位论文在解密后应遵守此规定）

签名： 导师签名：

日期： 年 月

摘 要

自动测试分选机现已成为分立器件后封装测试工序的主力测试设备。由于中国的半导体行业发展脚步较晚，以往国大部分企业使用效率低、速度慢的人工手动测试，到现在基本使用快速可靠的自动测试分选机代替人工手动测试。如何提高测试速度和可靠性一直是过去的十多年里自动测试分选机研究领域的核心问题。但是国外半导体行业发展较早，进口自动测试分选机性能成熟但价格昂贵，国产自动测试分选机价格低但故障率很高。

为了满足公司日益上涨的生产通量和客户对产品的质量和外观多样性的需求，研究人员提出了自主生产和开发速度更快，测试更准确，维修故障率更低的自动测试分选机。现有自动测试分选机主要分为振盘对料桶和料管对料管两大类。随着分立器件行业的发展，自动测试分选机的未来发展趋势是料管对料管的自动测试分选机，因为该设计符合测试速度快，测试可靠，产品外观好的要求。现我公司设计开发的料管对料桶的自动测试分选机思路是基于前两类自动测试分选机的设计基础上提出的，兼有两大类的优点，并对现有自动测试分选机的一种补充。

现在针对高端客户，一般使用料管对料管的自动测试分选机测试，目的在于保证三极管的质量和外观；针对普通客户，则使用振盘对料桶的自动测试分选机测试。对于料管复测的三极管则没有相应自动测试分选机测试，为了填补这个空白，有人提出研发料管对料桶的自动测试分选机。本文将在这方面做深入研究，同时也为日后研发料管对料管的自动测试分选机奠定基础。

本文主要容如下：

1. 介绍自动测试分选机的发展历史，以及现在设计研发的TO220自动分选机的机械系统和电路系统，对自动测试分选机的工作原理进行说明。

2. 基于VISUAL C++ 6.0编程，研发自动测试分选机的送料模块，实现料管送料功能。

3. 基于VISUAL C++6.0编程，研发自动测试分选机的测试模块，实现与测试系统配合测试。

4. 基于VISUAL C++6.0编程，研发自动测试分选机的分选模块，实现三极管分选功能。

5. 基于VISUAL C++6.0编程，研发自动测试分选机的人机界面模块，实现测试运行界面、分选程序界面、系统功能设置界面三大界面功能。

6. 关键词：三极管，自动测试分选机，VISUAL C++ 6.0

ABSTRACT

Handler has become a test discrete packaging and testing process after

the main test equipment. As the pace of China's semiconductor industry late

in the past, most domestic enterprises to use inefficient and slow testing

manually, and now basically use the fast and reliable automatic sorting

machine to replace manual testing manual testing. How to improve test speed

and reliability has always been in the past 10 years, sorting machine

automatically test the core research areas. However, early development of

the semiconductor industry abroad and imported automatic sorting machine

performance testing mature but very expensive automatic test separator

domestic prices low, but high failure rate.

In order to meet the company's rising production throughput and product

quality and customer demand for the appearance of diversity, the

researchers proposed the development of independent production and faster,

more accurate testing, maintenance, lower failure rate of handler. Existing

handler consists of vibrating plate on the hopper and feed tube to tube

two categories. With the discrete industries, handler on the future

development trend is expected to control the automatic testing of the feed

tube sorting machine, because the design is consistent with test speed,

test reliability, the product looks good requirements. I designed and

developed the company is expected to control the automatic testing of the

bucket sorting machine idea is based on the first two sorting machine

automatically test based on the proposed design, both advantages of the

two classes, and the sub-existing hanldler for a supplement.

Now for high-end customers, generally using the tube of the automatic test tube sorter

test, the purpose is to ensure the quality and appearance of the transistor; for regular

customers, use the vibration plate to the hopper of the automatic test sorting test. The

retest of the triode tube is no corresponding test automated test

separator,

in order to fill this gap, it was suggested that R & D tube to the hopper

of the automatic test separator. This article will do in-depth study in this regard, but

also for future R & D tube to the tube in a handler test basis.

This article reads as follows:

1. Introduction sorting machine automatically test history, and now

the

design and development of the TO220 sorting machine in the mechanical systems

and

electrical systems, automatic test separator on the working principle are explained.

2. Based VISUAL C + + 6.0 programming, developing handler feeding

module

that tube feeding function.

3. VISUAL C + +6.0-based programming, R & D sorting machine automatically

testing the test module, implemented and tested system for the tests.

4. VISUAL C + +6.0-based programming, R & D testing sorting machine

automatically sorting module that transistor sorting function.

5. VISUAL C + +6.0-based programming, Automated Test Separator R & D

man-machine interface module, the interface of test runs, sorting program

interface, the system features three interface features setup interface.

Keywords: transistor, handler, VISUAL C + + 6.0