第六章_铸造多晶硅
直到20 世纪90年代,太阳能光伏工业还是主要 建立在单晶硅的基础上。虽然单晶硅太阳电池的成本 在不断下降,但是与常规电力相比还是缺乏竞争力, 因此,不断降低成本是光伏界追求的目标。
自20世纪80年代铸造多晶硅发明和应用以来,增长 迅速; 80年代末期它仅占太阳电池材料的10%左右,而至 1996年底它已占整个太阳电池材料的36%左右,它以 相对低成本、高效率的优势不断挤占单晶硅的市场, 成为最有竞争力的太阳电池材料。 21世纪初已占50%以上,成为最主要的太阳电池材料。
晶锭在炉内退火后,关闭加热功率,提升隔热
装置或者完全下降晶锭,炉内通入大流量氩气,使晶 体温度逐渐降低至室温附近;同时,炉内气压逐渐上 升,直至达到大气压,最后除去晶锭,该过程约要 10h。
6.3.3 晶体生长工艺
对于重量为250-300Kg的铸造多晶硅而言,一般晶体
生长的速度为0.1-0.2mm/min,其晶体生长的时间约为3545h。
6.3.3 晶体生长工艺
6.3.3.5 退火 晶体生长完成后,由于晶体底部和上部存在较大的 温度梯度,因此,晶锭中可能存在热应力,在硅片加工和 电池制备过程中容易造成硅片碎裂。所以,晶体生长完成
后,晶锭保持在熔点附近2-4h,使晶锭温度均匀,以减少
热应力。
6.3.3 晶体生长工艺
6.3.3.6 冷却
6.3.1 铸造多晶硅的原材料
半导体级的高纯多晶硅 铸造多晶硅的原材料 微电子工业应单晶硅生产的 剩余料 质量相对较差的高纯多晶硅
微电子工业应 单晶硅生产的 剩余料
单晶硅棒的头尾料
单晶硅生长完成后剩余在石英坩埚 中的硅底料
6.3.1 铸造多晶硅的原材料
与直拉、区熔晶体硅生长方法相比,铸造方法对 硅原料的不纯具有更大的容忍度,所以铸造多晶硅的 原料更多地使用电子工业的剩余料,从而使得原料的 来源可以更广,价格可以更便宜; 在多晶硅片制备过程中剩余的硅材料还可以 重复利用。有研究表明,只要原料中剩余料的比 例不超过40%,就可以生长出合格的铸造多晶硅。
6.3.3 晶体生长工艺
6.3.3.4 晶体生长 硅原料熔化结束后,降低加热功率,使石英坩埚的温 度降低至1420℃-1440℃硅熔点左右。然后石英坩埚逐渐向 下移动,或者隔热装置逐渐上升,使得石英坩埚慢慢脱离 加热区,与周围形成热交换。
同时,冷却板通水,使熔体的温度自底部开始降低, 晶体硅首先在底部形成,并呈柱状向上生长,生长过程中 固液界面始终保持与水平面平行,直至晶体生长完成,该 过程约需要20-22h。
由于铸造多晶硅的优势,世界各发达国家都在努力发展 其工业规模。
自20世纪90年代以来,国际上新建的太阳电池和材料的 生产线大部分是铸造多晶硅生产线,相信在今后会有更 多的铸造多晶硅材料和电池生产线投入应用。 目前,铸造多晶硅已占太阳电池材料的53%以上,成为 最主要的太阳电池材料。
铸造技术制备多晶硅的主要工艺:
① 浇铸法
② 直熔法
6.2.1 浇铸法
在一个坩埚内将硅原料溶化,然后浇铸在另一 个经过预热的坩埚内冷却,通过控制冷却速率,采用 定向凝固技术制备大晶粒的铸造多晶硅。
6.2.1 浇铸法
6.2.2
直熔法
直接熔融定向凝固法,简称直熔法,又称
布里奇曼法,即在坩埚内直接将多晶硅溶化, 然后通过坩埚底部的热交换等方式,使得熔体 冷却,采用定向凝固技术制造多晶硅,所以, 也有人称这种方法为热交换法(Heat Exchange Method,HEM)。
晶锭的冷却速率的合理设计
在晶体生长初期,晶体生长速率尽量小,使得温度梯 度尽量小,以保证以最少的缺陷密度生长; 然后,在可以保持晶体固液界面平直和温度梯度尽量 小的情况下,尽量地高速生长以提高劳动生产率。
6.3.4 晶体生长的影响因素
3.铸造多晶硅中的晶粒大小 对于铸造多晶硅而言,晶粒越大越好,这样晶界的 面积和作用都可以减少,而这主要是有晶体生长过程决定 的。 在实际工业中,铸造多晶硅的晶粒尺寸一般为110mm,高质量的多晶硅晶粒大小平均可以达到10-15mm。
与直拉单晶硅相比,铸造多晶硅
优点:材料的利用率高、能耗小、制备成本低,而 且其晶体生长简便,易于大尺寸生长。
缺点: 含有晶界、高密度的位错、微缺陷和相对较
高的杂质浓度 ,其晶体的质量明显低于单晶
硅,从而降低了太阳电池的光电转换效率。
材料制备方面,平面固液相技术和氮化硅涂层技术等 技术的应用、材料尺寸的不断加大。 在电池方面,SiN减反射层技术、氢钝化技术、吸杂 技术的开发和应用,使得铸造多晶硅材料的电学性能 有了明显改善,其太阳电池的光电转换率也得到了迅 速提高。
利用定向凝固技术生长的铸造多晶硅,生长速度 慢,坩埚是消耗件,不能重复循环使用,即每一炉多 晶硅需要一直坩埚;而且,在晶锭底部和上部,各有 几厘米厚的区域由于质量低而不能应用。 为了克服这些缺点,电磁感应冷坩埚连续拉晶法 (electromagnetic continuous pulling)已经被开发, 简称EMC或EMCP法。
6.3.4 晶体生长的影响因素
2. 温度梯度 冷却速率对硅锭温度梯度的的影响
影响温度梯度的因素,除了热场本身的设计外,冷却
速率起决定性的作用。 通常晶体的生长速率快,劳动生产率越高,但其温 度梯度也越大,最终导致热应力越大,而高的热应力会导 致高密度的位错,严重影响材料的质量。
6.3.4 晶体生长的影响因素
6.3.4 晶体生长的影响因素
铸造多晶硅中需要解决的主要问题
① 尽量均匀的固液界面温度;
② 尽量小的热应力; ③ 尽量大的晶粒;
④ 尽可能少的来自于坩埚的污染。
6.3.4 晶体生长的影响因素
1. 固液界面的温度 晶体凝固时,一般自坩埚的底部开始,晶体在底 部形核并逐渐向上生长。在不同的热场设计中,固液界 面的形状呈凹状或凸状,由于硅熔体和晶体硅的密度不 同,此时地球的重力将会影响晶体的凝固过程,产生晶 粒小、不能垂直生长等问题,影响铸造多晶硅的质量。
6.3.2 坩埚
解决石英坩埚问题的方法
工艺上一般利用Si3N4或SiO/SiN等材料作为涂层,
附加在石英坩埚的内壁。
6.3.2 坩埚
涂层的作用 ① 隔离了硅熔体和石英坩埚的直接接触,不仅能解 决黏滞问题,而且可以降低多晶硅中的氧、碳杂 质浓度。 ② 利用Si3N4涂层,还使得石英坩埚可能得到重复使 用,达到降低生产成本的目的。
铸造多晶硅的优缺点
缺
铸造多晶硅具有晶界、高密度的位错、 微缺陷和相对较高的杂质浓度,从而降低了 太阳电池的光电转换效率。
6.1 概述 6.2 铸造多晶硅的制备工艺
6.3 铸造多晶硅的晶体生长
利用铸造技术制备多晶硅,称为铸造多 晶硅(multicrystalline silicon,mc-Si)。
电磁感应冷坩埚连续拉晶法原理: 是利用电磁感应的冷坩埚来熔化硅原料。
电磁感应冷坩埚连续拉晶法的优点
① 这种技术熔化和凝固可以在不同部位同时进行, 节约生产时间;而且,熔体和坩埚不直接接触, 既没有坩埚消耗,降低成本,又减少了杂质污染 程度,特别是氧浓度和金属杂质浓度有可能大幅 度降低。 ② 该技术还可以连续浇铸,速度可达 5mm/min。 由于电磁力对硅熔体的作用,使得掺杂剂在硅熔 体中的分布可能更均匀。
6.3.3 晶体生长工艺
直熔法制备铸造多晶硅的具体工艺如下:
装料
加热
化料
晶体生长
冷却
退火
6.3.3 晶体生长工艺
将装有涂层的石英坩埚放置在热交换台(冷去板)上, 放入适量的硅原料,然后安装加热设备,隔热设备和 炉罩,将炉内抽真空,使炉内压力降至0.05-0.1mbar并 保持真空。通入氩气作为保护气体,是炉内压力基本 保持在400-600mbar左右。
直拉单晶硅为圆片状 不能有效地利用太阳电池组件的有效空间,相对增 加了太阳电池组件的成本。 直拉单晶硅需要更多的“人力资源”,如在晶体生 长的“种晶”过程,所以也增加了人力成本。
铸造多晶硅的优缺点
优
①铸造多晶硅是利用浇铸或定向凝固的铸造技术,在方 形坩埚中制备晶体硅材料,其生长简便,易于大尺寸生 长,易于自动化生长和控制,并且很容易直接切成方形 硅片; ②材料的损耗小,同时铸造多晶硅生长相对能耗小,促 使材料的成本进一步降低,而且铸造多晶硅技术对硅原 料纯度晶体生长工艺
多晶硅太阳电池制备流程
6.3.4 晶体生长的影响因素
与直拉单晶硅不同,铸造多晶硅结晶时不需要籽晶。 晶体生长过程中,一般自坩埚底部开始降温,当硅熔体的 温度低于熔点(1414℃)时,在接近坩埚底部处熔体首先 凝固,形成柱状晶,柱状的方向与晶体凝固的方向平行, 直至所有的硅熔体都结晶为止,这是典型的定向凝固过程。
6.3.2 坩埚
在铸造多晶硅制备过程中,可以利用方形的高纯 石墨作为坩埚,也可以利用高纯石英作为坩埚。
高纯石墨的成本比较便宜,但是有较多可能的碳污 染和金属污染;高纯石英的成本较高,但污染少,要 制备优质的铸造多晶硅就必须利用石英坩埚。
6.3.2 坩埚
石英坩埚的存在的问题 ① 在制备铸造多晶硅时,原材料熔化、晶体硅结晶过 程中,硅熔体和石英坩埚长时间接触,会产生黏滞作 用。由于两者的热膨胀系数不同,在晶体冷却时很可 能造成晶体硅或石英坩埚破裂。 ② 由于硅熔体和石英坩埚长时间接触,与制备直拉单 晶硅时一样,会造成石英坩埚的腐蚀,使得多晶硅中 的氧浓度升高。
显然,这是一种很有前途的铸造多晶硅技术。
电磁感应冷坩埚连续拉晶法的缺点
• 制备出的铸造多晶硅的晶粒比较细小,约为3-5mm, 而且晶粒大小不均匀。 • 该技术的固液界面是严重的凹形,会引入较多的晶体 缺陷。因此,这种技术制备的铸造多晶硅的少数载流 子寿命较低,所制备的太阳电池的效率也较低。