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初、中级射线检测计算公式

1、最短波长公式
(能量公式)h 普朗克常数
2、之间近似有下述关系: min 5.1λλ=IM
3、连续谱射线的总强度I :2ZiV K I i T = Ki 为比例常数、Z 靶原子序数、i 管电流/管电压
4、连续谱X 射线的转换效率η
; ZV K i =η 5、放射性原子核的衰变公式:
T e N N λ-=0
λ衰变常数T 时间
(
为衰变常数 N 为剩余的原子核数N0为原有原子核数 T 为所用时间
7:单色窄束射线的衰减规律:T
e I
I
μ-=0 T 为透照厚度 I 为穿透后辐射强度 0I 为原辐射强度
8、线衰减系数μ:3
3λρμZ K =
T 为透照厚度 I 为穿透后辐射强度
I 为原辐射强度 K
ρZ 原子序数 9、半价层:
μ为线衰减系数
10、
11、影响半值层T1/2
K 康普顿系数、ρ混合物密度、Z 原子序数
12、为散射比 I 透射强度、I0初始强度μ为平均衰减系数T 厚度
13、主因对比度跟透照厚度、衰减系数和散射比有关
14、胶片梯度G 公式 黑度值、E1为对应曝光量、E1’切线与横轴交点曝光量G 为梯度或反差系数
15、黑度D :照射光强度与穿过底片的透射光强之比常用对数值D
L L 100=
L
L D 0lg
= L 透射光强L0照射光强
宽容度L :L=10lgE2-lgE1=E2/E1 E1、E2相对曝光量
相对灵敏度K :K=d/T*100% d 射线可认到最细线直径、T 被检工件穿透厚度 16、射线照相对比度公式:ΔD=-0.434 G μΔT/(1 + n ),G 梯度μ衰减系数ΔT 缺陷尺寸n 散射比
17、射线照相几何不清晰度:Ug = df ×L2/L1=df ×L2/(F-L2) df 焦点尺寸、L1焦点至工件表面距离、L2工件表面至胶片距离、F 焦距
固有不清晰度:Ui=0.0013(kV)0.79
焦距F =L1+L2 L1为交点、L2为透照厚度。

18、X 射线曝光量:E=it γ射线曝光量:E=At
19、平方反比定律:从一点源发出的辐射,强度I 与距离F 的平方成反比 I1/I2=(F2/F1)2
20、X 射线照相的曝光因子:Ψ=i t/F 2= i 1t 1/F 11= i 2t 2/F 22=……= i n t n /F n 2 i 为管电流、F 为焦距t 为曝光时间
γ射线照相的曝光因子:Ψ=A t/F 2= A 1 t 1/F 12= A 2t 2/F 22=……= A n t n /F n 2曝光因子与强度、曝光时间和焦距有关 19、透照厚度比K :K 值与横向裂纹检出角θ的关系:K=1/Cos θ θ=cos -1(1/K) 20 、一次透照长度L 3: L 3= 2L 1tan θ L1为焦距 21、直缝单壁单影: 底片的有效评定长度: L eff =L 3+ΔL
搭接长度ΔL =L2L3/L1 L2为工件表面到胶片距离
纵缝作双壁单投影:底片的有效评定长度应为:leff=ΔL+L3′+ΔL L3′胶片侧焊缝等分长度
22、环缝单壁外照法N=360218000
αα
=
α=θ-η θ=cos-1 [
1120
+-()K T D
K
] η= sin-1(
D D L 0
01
2+sin θ
)
K=1.1 θ=cos-1 [
1.121.0D D T +] 当D 0>>T 时,θ≈cos -1K-1 K=1.1 θ=24.62
L3=πD0/N ; L'3=π*DI/N ΔL ≈2T ·tan θ Leff =ΔL /2+L3+ΔL /2
α:与AB/2对应的圆心角; θ:最大失真角或横裂检出角; η- -有效半辐射角; K- 透照厚度比; T- 工件厚度; D0--- 容器外直径 Di -容器内直径
23、利用曝光曲线求非钢材的曝光量 射线等效系数(φm 表示)是指在一定管电压下,达到相同射线吸收效果(或者说获得相同底片黑度)的基准材料厚度To 与被检材料厚度Tm 之比,即: φm=T 0/T m
24、椭圆成像法偏心距 L 0=(b +q )L 1/ L 2=(F-D 0-Δh)(b+q)/( D 0+Δh)=[焦距-(外径+焊缝余高)]×(焊缝宽度+开口
宽度)/(外径+焊缝余高)
25、小径管透照次数T/D0<=0.12相隔90度2次,其余相隔120度或60度三次
26、比释动能K=33.72P P照射量
27、距离防护:对点源来说,在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22D为当处剂量
28、照射量P=AK r t/R2 A放射性活度、R到点源距离、Kr常数、t受照时间照射率P’= AK r/R2(R/h)
29、半价层防护T1/2=0.301T1/10 I0/I=2n d=nT1/2 n半价层个数T1/2半价层厚度d屏蔽层厚度。

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