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Cherry成品键盘检验规范_Sunrex
≤0.25,在100mm直径内最多接受2个刮长≤2.0mm,
宽≤0.25mm
=,
[
MA
掉漆
是否有上盖掉漆掉色0.3m㎡≤S≤0.8m㎡
MI
毛边
上盖边缘,及HOTKEY孔内有毛边不超过≤0.1mm
MI
尺寸不符
尺寸与承认样品不符
MA
脏污
是否有上盖脏点(擦不掉)1.0m㎡≤s≤1.5m㎡
MI
部份
不良项目
定义
MI
高低键
任一字键高低差与基准面高低差超过0.2MM
MA
文件类别
名称
编号
QF-010
版本
1
检验规范
Cherry成品键盘检验规范
页数
3 OF 5
发行日期
2006.05.10
修订日期
2007.12.14
部份
不良项目
定义
等级
外
观
检
验
贴
纸
部
分
漏贴
任一应贴贴纸未贴。
MA
倒贴
任一贴纸所贴பைடு நூலகம்向相反。
MA
偏位
贴纸所贴位置与规定位置偏离不超过2MM。
页数
2 OF 5
发行日期
2006.05.10
修订日期
2007.12.14
目视时间:30秒
6.0.检验项目:
项目
客户
抽样计划
允收水准
备注
CR
MA
MI
电气测试
CHERRY
MIL---STD---105Elevel II
0
0.4
1.0
结构检验
CHERRY
MIL---STD---105Elevel --2
0
8.5.所有在外观限定标准内,缺点总数不得超过3处.
4.1产品机能有重大影响,使客户无法使用;危及生命;预测有可能导致不安全状况。定义为严重缺点。(CR)
4.2不能达到产品的使用目的,或者主要规格严重偏离;使客户使用时有不满意的情绪,或者使用时需改造和交换零部件等多余麻烦;在使用初期尽管没有大的障碍,但导致缩短产品寿命的。定义为主要缺点。(MA)
4.3几乎不影响制品使用目的;部分规格略微偏规格;客户使用时还较为满意。定义为次要缺点。(MI)
0.4
1.0
外观检验
CHERRY
MIL---STD---105Elevel --2
0
0.4
1.0
信赖性试验
由QE依信赖性试验规范操作并提供报告
7.0.判定标准:
部份
不良项目
定义
等级
电
性
/
功
能
测
试
功能不稳定
于特定之测试程序显示上任一字键或附加功能按键不对应的显示或机遇性无动作。
CR
NO function
文件名称
Cherry成品键盘检验规范
发行日期
2006.05.10
文件编号
QF-010
有效期间
下次更改前
适用产品
Cherry成品键盘
相关单位
品保制四
发行单位
品保
发布单位
品保制四
修订原因
□版本更改■新订
版次
修订内容
修订者
修订日期
0
新订
胡利平
2006.05.10
1
修訂7.0判定標准
胡利平
2007.12.14
5.0.使用设备、工具及检验环境要求:
5.1计算机
5.2静电环或其它防静电用具
5.3十倍仪
5.4游标卡尺
5.5测试治具
5.6相对湿度:45%—85%
5.7照明度:500—900LUX
5.8目视距离:30CM(视力1.0以上)
5.9目视角度:45 90
文件类别
名称
编号
QF-010
版本
1
检验规范
Cherry成品键盘检验规范
编号
QF-010
版本
1
检验规范
Cherry成品键盘检验规范
页数
4 OF 5
发行日期
2006.05.10
修订日期
2007.12.14
文件类别
名称
编号
QF-010
版本
1
检验规范
Cherry成品键盘检验规范
页数
5 OF 5
发行日期
2006.05.10
修订日期
2007.12.14
部份
不良项目
定义
等级
包装
部分
脏污
外箱污脏直径超过2CM且无法擦拭干净
MI
包装不符
包装方式与包装规范及客户要求不符
MA
数量不符
产品数量与外箱标示数量及客户要求不符
MA
印刷不良
外箱任一字符或字体印刷模糊,错误、断笔、少印、错位
MI
标示不符
标记与实际内容物不符合或标示不完整。
MA
条形码
条形码无断笔,无破损,无漏贴之现象。
MA
破损
外箱破损长度超过8MM
是否有电缆线划伤≤10mm≤浅L≤15mm0.5mm≤深L≤0.8mm
MI
脏污
不可擦拭污点面积的直径≤1.5m㎡≤S≤3.0m㎡
MI
插头不良
插头变形,破损、或断针并影响使用者。
MA
刮伤或裂痕
电缆线刮伤≤0.5MM或裂痕露出芯线者
MA
插拔不良
无法插入或拉拔力低于0.5千克力
MA
柔韧性不良
电缆线的材质与承认样品的柔韧性相比偏硬或偏软
CR
LED亮度不够
任一颗LED不亮,亮度不够或散光并影响视觉者。
MA
接收不到信号(针对无线键盘)
对接受器进行ID测试后,按任一键于按键时无功能,无动作显示。
CR
接收距离短(针对无线键盘)
对接受器进行ID测试后,功能测试OK,接收距离2.4GHz的为10米以上,27MHz接收距离3米后无动作,无显示。
3.0.参考文件:
3.1.键盘材料结构、物料图面及客户规格
3.2.军方标准规格(MIL–STD–105E)水准Ⅱ
3.3.矫正与预防措施作业程序PII-QA14
3.4.重工处理作业程序PII-QA15
3.5..最终检验与测试作业程序PII-QA18
3.6..不合格品管制作业程序PII-QA24
4.0.等级定义:
MA
结
构
部
分
组合不良
上下盖四周结合缝隙與設計公差不超过0.15MM
MI
变形
于30CM距离目视可见明显之弯曲变形
MA
卡键
任一字键手按下后不能自行回弹或回弹无力缓慢
MA
触感不佳
任一字键手按时与同类键相比偏重或偏软不顺畅
MI
段差
上下盖密合后凹陷或凸出不超过0.2MM。
MI
平整度
KB放在大理石上面不允許有翹腳不平整現象。
等级
外观部分
下盖部分
划伤
是否有下盖或调整脚划伤1mm≤浅L≤0.5mm0.3mm≤深L≤0.5MM
MI
调整脚
调整脚不可在调整时僵硬,无段落感或易脱落
MA
脏污
是否有下盖或调整脚脏点(擦不掉)≤1.5m㎡*3≤S≤2.5m㎡*3
MI
料花
允许有1点,面积≤0.1m㎡,透明件不允许有
MA
Cable线
部
分
划伤
任一键于按键时无功能,无动作显示。
CR
短路/开路
任一键于按键时产生两个或多个键连动,或本不属规定功能,而具备功能者。
CR
自动显示
按通电源后,任一字键自动有功能显示者。
CR
KEY IN不良
任一字键必须以大于100g力方能从事键入功能。
CR
灵敏度不良
任一键KEY IN后消失慢,反应迟钝,或灵敏度过高并影响使用者。
MI
色差
任一字键或上下盖与承认样品颜色有明显差异且DE≥0.5
MA
字键脏污
是否有字键脏点(擦不掉)0.3m㎡≤S≤0.5m㎡
MI
误配
任一字键装错位置或使用不符合规格的字键。
CR
字键划伤
是否有字键划伤0.5m㎡≤S≤0.8m㎡
MI
上
盖
部
分
毛絮
毛絮长度不超过≤0.5mm
MI
划伤
在50mm直径内最多可接受1个划伤长≤2.0mm宽
MI
8.0.备注:
8.1.凡判定标准介于本厂规格与客户规格之间者,需经由品管主管裁定判定等级.
8.2.凡未列入判定标准之不合格项目,由品管主管或品管工程师判定其缺点等级.
8.3.经检验判定合格品(批),于流程单或外箱上盖允收章.
8.4.经检验判定不合格品(批),按《最终检验与测试作业程序PII-QA18》执行.
MI
尺寸不符
尺寸与承认样品不符
MA
破损
破损长度不超过0.7MM
MI
脏污
不可擦拭脏污面积直径不超过1MM。
MI
字
键
部
分
漏装
任一字键漏装或容易掉落。
CR
毛边
字键毛边长度不超过0.2MM
MI
脏污
字键脏污(不可擦拭)直径不超过0.4MM。
MI
缩水
任一字键正面目视可见明显缩水痕迹,且面积直径不超过0.2MM,侧面面积直径不超过0.4MM
批准:审核:修订:胡利平
日期:日期:日期: 2007.12.14
文件类别
名称
编号
QF-010
版本