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实验报告（一）TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试1．测试TTL集成与非门74LS20的逻辑功能，测试结果记录如下表：
输入输出
An Bn Cn Dn Yn
1 1 1 1
0 1 1 1
1 0 1 1
1 1 0 1
1 1 1 0
2. 74LS20主要参数的测试
I CCL （mA）
I CCH
（mA）
I il
(mA)
I OL
（mA）
N O=
iL
OL
I
I
3. 电压传输特性测试
V i(V) 0 0.4 0.7 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 1.4 2.0 3.0 4.0 …
V O(V)
4.画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。

实验报告（二）CMOS 电路
1．用所给的集成电路（CD4007）实现F=ABC ,将实验结果填入真值表中，并测出高、低电平（真值表自拟，测试步骤自拟）。

2. 用所给的集成电路实现F=C B A ++（真值表自拟，测试步骤自拟）。

3. 用所给的集成电路，构成图2-2反相器。

（a ）测最大灌电流I OL (V OL =0.1V ,接通图2-2中的虚线框①)。

（b ）测最大拉电流I OH (V OH =4.9V,断开虚线框①，接通虚线框②。

4. 构成如图2-3所示的反相器，测最大灌电流I OL 。

实验报告（三）组合逻辑电路实验分析与设计(1) 写出由与非门组成的半加器电路的逻辑表达式
(2) 根据表达式列出真值表，并画出卡诺图判断能否简化
A B Z1 Z2 Z3 S C
0 0
0 1
1 0
1 1
实验：
1.测试由与非门组成的半加器电路的逻辑功能
A B S C
0 0
0 1
1 0
1 1
2.测试用异或门74LS86和与非门74LS00组成的半加器的逻辑功能
A B S C
0 0
0 1
1 0
1 1
实验报告（四）集成译码器及其应用1．74LS138功能验证结论；
2. 逻辑函数F的真值表；
3. 用74LS138和74LS20实现下述逻辑函数，画出原理图并接线测试列出真值表。

L（A，B，C）=AB+AC+BC；
实验报告（五）数据选择器功能测试及其应用电路的设计与调试
1. 74LS151功能测试结论；
2. 74LS151按规定连接的逻辑函数发生器数据及功能
1.测试JK触发器的逻辑功能
J K CLK Q*
Q=0 Q=1
0 0 0→1
1→0
0 1 0→1
1→0
1 0 0→1
1→0
1 1 0→1
1→0
2.测试D触发器的逻辑功能
D CLK Q*
Q=0 Q=1
0 0→1
1→0
1 0→1
1→0
3.说明触发器的触发方式
1.画出实验线路图，记录、整理实验现象及实验所得的有关波形。

对实验结果进行分析。

2.总结使用集成计数器的方法。

实验报告（八）555定时基础电路及其应用1．定量绘出单稳态触发器观测到的波形。

2．定量绘出多谐振荡器观测到的波形。

实验报告（九）移位寄存器及其应用
1.总结移位寄存器74LS194的逻辑功能并写入表格功能总结一栏中
CP CR S1 S0 S R S L Q3 Q2 Q1 Q0功能
×0 ××××
↑ 1 1 1 ××
↑ 1 0 1 0 ×
↑ 1 0 1 1 ×
↑ 1 0 1 0 ×
↑ 1 0 1 0 ×
↑ 1 1 0 × 1
↑ 1 1 0 ×0
↑ 1 1 0 × 1
↑ 1 1 0 ×0
↑ 1 0 0 ××
2.循环移位实验结果
CP Q3 Q2 Q1 Q0
0 0 1 0 0
1
2
3
4
3.画出4位环形计数器的状态转换图及波形图。