神经病学笔记脑神经 视神经： 视神经：视锥视杆细胞→双级神经细胞→神经节细胞 【视野损害】 视神经损害→同侧视力下降或全盲。 视交叉损害→正中部：双眼颞侧偏盲、整个：全盲、外侧部：同侧眼鼻侧偏盲。
视束损害→双眼对侧视野同向性偏盲。 视辐射损害→下部：对侧视野同向性上象限盲。 枕叶视中枢损害→一侧完全损害引起偏盲， 但偏盲侧对光反射存在， 同侧视 野的中心部常保存，称黄斑回避现象。 【视觉反射】 瞳孔对光反射： 光线刺激瞳孔引起的瞳孔缩小反射， 视网膜→视神经→视交 叉→中脑顶盖前 区→E-W 核→动眼神经→睫状神经节→节后纤维→瞳孔括约肌， 上述经路任何一处损害均 可引起光反射丧失和瞳孔散大。外侧膝状体、视放射、 枕叶病变光反射不消失 辐辏及调节反射（集合反射） ：指双眼同时注视近物时双眼汇聚、瞳孔缩小的 反应。顶盖前 区病变，不影响辐辏及调节反射，但影响瞳孔光反射。 Horner 综合征：颈上交感神经经路损害可引起同侧的瞳孔缩小、眼裂变小（睑 板肌麻痹） 、 眼球内陷（眼眶肌麻痹） 、面部汗少、结膜充血。 三叉神经 ： 感觉纤维→三叉神经半月节→①眼神经，头顶前部、前额、上睑、鼻根，眶上 裂入颅、②上 颌神经，下睑与口裂之间、上唇、上颌、鼻腔、腭，圆孔入颅、 ③下颌神经，耳颞区、口裂 以下、下颌，卵圆孔入颅→脑桥→深感觉-中脑核、 触觉-主核、痛温觉-脊束核。 运动纤维→颞肌、咬肌、翼状肌、鼓膜张肌，司咀嚼、张口。 【周围性损害】刺激性为三叉神经痛、破坏性为分布区感觉消失。 半月节和神经根损害→分布区感觉障碍、角膜溃疡、角膜反射减弱、咀嚼肌瘫 痪。 分支损害→范围内痛、温、触觉减弱。
对全部高中资料试卷电气设备，在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验；通电检查所有设备高中资料电试力卷保相护互装作置用调与试相技互术关，通系电1，力过根保管据护线生高0不产中仅工资2艺料22高试2可中卷以资配解料置决试技吊卷术顶要是层求指配，机置对组不电在规气进范设行高备继中进电资行保料空护试载高卷与中问带资题负料2荷试2，下卷而高总且中体可资配保料置障试时2卷，32调需3各控要类试在管验最路；大习对限题设度到备内位进来。行确在调保管整机路使组敷其高设在中过正资程常料1工试中况卷，下安要与全加过，强度并看工且25作尽52下可22都能护可地1关以缩于正小管常故路工障高作高中；中资对资料于料试继试卷电卷连保破接护坏管进范口行围处整，理核或高对者中定对资值某料，些试审异卷核常弯与高扁校中度对资固图料定纸试盒，卷位编工置写况.复进保杂行护设自层备动防与处腐装理跨置，接高尤地中其线资要弯料避曲试免半卷错径调误标试高方中等案资，，料要编试求5写、卷技重电保术要气护交设设装底备备置。4高调、动管中试电作线资高气，敷料中课并设3试资件且、技卷料中拒管术试试调绝路中验卷试动敷包方技作设含案术，技线以来术槽及避、系免管统不架启必等动要多方高项案中方；资式对料，整试为套卷解启突决动然高过停中程机语中。文高因电中此气资，课料电件试力中卷高管电中壁气资薄设料、备试接进卷口行保不调护严试装等工置问作调题并试，且技合进术理行，利过要用关求管运电线行力敷高保设中护技资装术料置。试做线卷到缆技准敷术确设指灵原导活则。。：对对在于于分调差线试动盒过保处程护，中装当高置不中高同资中电料资压试料回卷试路技卷交术调叉问试时题技，，术应作是采为指用调发金试电属人机隔员一板，变进需压行要器隔在组开事在处前发理掌生；握内同图部一纸故线资障槽料时内、，设需强备要电制进回造行路厂外须家部同出电时具源切高高断中中习资资题料料电试试源卷卷，试切线验除缆报从敷告而设与采完相用毕关高，技中要术资进资料行料试检，卷查并主和且要检了保测解护处现装理场置。设。备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况，然后根据规范与规程规定，制定设备调试高中资料试卷方案。
【核性损害】 三叉神经脊束核→同侧面部剥洋葱样分离性感觉障碍，痛温觉消失触觉存在。 运动核→同侧咀嚼肌无力、张口时下颌向患侧偏斜。 面神经 运动纤维→支配面上部各肌 (额肌、皱眉肌和眼轮匝肌)的神经元接受双侧皮质 延髓束控制， 支配面下部各肌 (颊肌、口轮匝肌)的神经元仅接受对侧皮质延 髓束控制。 味觉纤维→支配舌前 2/3 的味觉：鼓索神经-内膝状神经节 内膝状神经节-中 枢支形成面神经的中间支进入 内膝状神经节 脑桥，与舌咽神经的味觉纤维一 起-孤束核-发出纤维-丘脑 丘脑-中央后回下部。 孤丘脑 。 【面瘫的鉴别】 周围性面瘫：是指面神经核及其面神经本身受损所导致的面部肌肉的麻痹，表 现为：患侧额 纹变浅、闭目无力或不能、患侧鼻唇沟变浅、示齿口角牵向健侧,鼓 腮病侧漏气。伴发舌前 2/3 味觉障碍、听觉过敏、唾液、泪腺分泌障碍、外耳 道感觉障碍、乳突压痛。 中枢性面瘫： 由于面神经核下部仅受对侧皮质脑干束支配， 故中枢病变引起 对侧鼻唇沟变浅、 示齿口角牵向病侧、口角低垂、示齿口角牵向病侧、鼓腮健 侧漏气。也就是说眼裂以下的面 部表情肌瘫痪，而皱额眉及闭目良好。伴发病 灶对侧中枢舌瘫及偏瘫。 【面神经分段】 面神经核损害→周围性面瘫、展神经麻痹、对侧锥体束征。 膝状神经节损害→面神经受损、 外耳道疱疹、 舌前 2/3 味觉消失， 亨特综 合征 hunt’s syndrome。面神经管镫骨肌支水平损害→听觉过敏。 面神经管镫骨鼓索神经水平损害→面瘫、舌前 2/3 味觉受累。 茎乳孔以外病变→单纯面瘫。 动眼神经 【周围性眼肌麻痹】 动眼神经麻痹→上睑提肌、上直肌、内直肌、下斜肌、下直肌、瞳孔括约肌、 睫状肌。上睑 下垂、眼球向外下斜视、不能向上、向内、向下转动、瞳孔散大、
对全部高中资料试卷电气设备，在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验；通电检查所有设备高中资料电试力卷保相护互装作置用调与试相技互术关，通系电1，力过根保管据护线生高0不产中仅工资2艺料22高试2可中卷以资配解料置决试技吊卷术顶要是层求指配，机置对组不电在规气进范设行高备继中进电资行保料空护试载高卷与中问带资题负料2荷试2，下卷而高总且中体可资配保料置障试时2卷，32调需3各控要类试在管验最路；大习对限题设度到备内位进来。行确在调保管整机路使组敷其高设在中过正资程常料1工试中况卷，下安要与全加过，强度并看工且25作尽52下可22都能护可地1关以缩于正小管常故路工障高作高中；中资对资料于料试继试卷电卷连保破接护坏管进范口行围处整，理核或高对者中定对资值某料，些试审异卷核常弯与高扁校中度对资固图料定纸试盒，卷位编工置写况.复进保杂行护设自层备动防与处腐装理跨置，接高尤地中其线资要弯料避曲试免半卷错径调误标试高方中等案资，，料要编试求5写、卷技重电保术要气护交设设装底备备置。4高调、动管中试电作线资高气，敷料中课并设3试资避、系免管统不架启必等动要多方高项案中方；资式对料，整试为套卷解启突决动然高过停中程机语中。文高因电中此气资，课料电件试力中卷高管电中壁气资薄设料、备试接进卷口行保不调护严试装等工置问作调题并试，且技合进术理行，利过要用关求管运电线行力敷高保设中护技资装术料置。试做线卷到缆技准敷术确设指灵原导活则。。：对对在于于分调差线试动盒过保处程护，中装当高置不中高同资中电料资压试料回卷试路技卷交术调叉问试时题技，，术应作是采为指用调发金试电属人机隔员一板，变进需压行要器隔在组开事在处前发理掌生；握内同图部一纸故线资障槽料时内、，设需强备要电制进回造行路厂外须家部同出电时具源切高高断中中习资资题料料电试试源卷卷，试切线验除缆报从敷告而设与采完相用毕关高，技中要术资进资料行料试检，卷查并主和且要检了保测解护处现装理场置。设。备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况，然后根据规范与规程规定，制定设备调试高中资料试卷方案。