研究生《材料研究方法》《材料表征技术》《材料现代分析技术》课程考试题汇编注：题目有可能重复，不同年级的考试内容也不同。
一、选择题，下面各题只有一个答案是正确的，请选择正确答案写在答题纸上。
1．X射线具有许多特性，下列哪一项不是X射线的特性？A. 使照相底片感光B. 在物质中传播发生明显折射C. 使气体电离D. 具有一定的穿透能力2．下列哪组干涉面属于[]101晶带，且为面心立方中X射线衍射线出现的实际晶面？A. ()()313224 D. ()()111511 C. ()()333311 B. ()()1131003．在SEM中，物镜是一种弱磁透镜，具有较长的焦距，其目的是使样品室和透镜之间留有一定空间，以便装入各种信号探测器。
除此之外，它还具有什么作用？A. 成象放大B. 图象投影C. 会聚电子束D. 扫描电子束4．下列哪种情况会产生荧光辐射?A. Cu Kβ激发Cu Kα荧光B. Cu Kβ激发Ni的K系荧光C. Cr Kα激发V的K系荧光D. Fe Kα激发Mn的K系荧光5．对于同一个晶体物质：A. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵是完全相同的B. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵是完全不同的C. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵所属晶系是不同的D. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵所属晶系是相同的，但其布拉菲结构特征是不等价的6．俄歇电子A. 其能量与激发源的能量无关，只取决于物质原子的能级结构B. 其能量与激发源的能量有关，不同能量的激发源激发不同能量的俄歇电子C. 是物质被激发后唯一可能产生的一种辐射D. 是物质中被激出的内层电子7．高角度散射暗场（HAADF）技术利用环形探测器只探测高角度散射电子，没有利用中心部分的透射电子，将这种方式与扫描透射电子显微方式（STEM）结合，就能得到暗场STEM象。
如图，一束电子透过厚度均匀的试样后，在HAADF图象中，原子序数大的部分相对于原子序数小的部分A. 衬度一样B. 衬度相近C. 呈亮相D. 呈暗相8．透射电镜的分辨本领主要取决于物镜，而物镜的分辨本领决定于A. 衍射效应B. 衍射效应和象散C. 衍射效应和色差D. 衍射效应和球差9．X射线衍射仪测定试样表面宏观应力的实验方法是A. 测量晶体内几个不同取向的不同晶面的晶面间距B. 测量晶体内几个相同取向的不同晶面的晶面间距C. 测量晶体内垂直于应力方向的某一晶面的晶面间距D. 测量晶体内不同取向的同一个晶面的晶面间距10．测定样品中某元素的价态，下列哪一种方法最佳?A. WDSB. EDSC. AESD. XPS孪晶是指晶体中原子排列以某一晶面（孪生面）成镜面对称的部分。
孪晶可以在形变过程形成，可以在晶体生长时形成（如自然孪晶），也可以在退火及相变过程形成。
如右图是Cr18Ni5Si1.5Mo2.7－Fe双相不锈钢中的孪晶形貌。
11．图中A－A条纹处于晶内，它表示A. 位错B. 层错C. 等厚条纹D. 等倾条纹12．图中B－B是孪晶界，其条纹象是A. 位错B. 层错C. 等厚条纹D. 等倾条纹13．图中P处白色条纹表示A. 位错B. 层错C. 等厚条纹D. 等倾条纹如右图是奥氏体不锈钢中与基体共格的含铜沉淀相，它们（P1、P2、P3）呈现蝶形轮廓衬度。
试样薄膜厚度均匀，基本无弯曲。
14．图中蝶形衬度是由下列哪种衬度引起的？A. 应变场衬度B. 位向衬度C. 结构因子衬度D. 相界衬度15．图中蝶形图象表示含铜沉淀相形状为A. 蝶形B. 盘状C. 球形D. 两个半球形粒子16．推测图中P1、P2、P3各沉淀相在样品中所处深度（从上表面到下表面深度依次增大）A. P1=P2=P3B. P1<P3<P2C. P1>P3>P2D. P3>P1>P2如右图为化学气相沉积的金刚石颗粒的扫描电镜二次电子象。
17．请判断A 、B 、C 三个面的法线与入射电子束的夹角大小，从大到小排列为：A. A>B>CB. A<B<CC. A>C>BD. C>A>B18．假定入射电子束与A 面垂直，A 面为（111）晶面，B 面为（101）晶面，则B 面法线与入射电子束的夹角为 A. 35.3︒ B. 54.7︒ C. 90︒ D. 125.3︒19．金刚石是一种良好的绝缘体，对于图中大颗粒，如果表面不作任何处理，在扫描电镜中，可以观察到哪种图象？ A. 二次电子象 B. 吸收电子象 C. 透射电子象 D. 背散射电子象阅读下面一篇论文节录，完成20～24小题。
Plasma source ion nitriding has emerged as a low-temperature, low-pressure nitriding approach for low-energy implanting nitrogen ions and then diffusing them into metal and alloy. The engineering surfacees for combining improvement in wear and corrosion resistance were obtained on the nitrided 18-8 type austenitic stainless steel.In this paper, commercial 1Cr18Ni9Ti austenitic stainless steel was selected as the sample material. All samples were finely ground, polished, and finally cleaned in acetone. In the plasma source ion nitriding processs, samples were placed in an electron cyclotron resonance (ECR) microwave plasma and biased with a pulsed negative potential of –2kV at a process temperature of 380︒C regulated by an auxiliary heater. Nitrogen ion implantation dose rate was 0.63 mA/cm 2. Nitriding time was 4 h.Fig.1 shows the nitrogen concentration depth profiles by AES and EPMA on the nitrided surfacee of the stainless steel at a process temperature of 380︒C. A nitrided layer approximately 13 μm thick was obtained on the nitrined surfacee. Its peak nitrogen concentration was approximately 32 at.%.The crystal structure of the nitrided layer was investingated using X –ray diffraction, as shown in Fig.2. A single γN phase on the nitrided surface was detected. The anisotropic distribution of disordered nitrogen in f.c.c. lattice of the γ phase resulted in its complicated structure, leading to complete disappearance of some peaks of high-index planes. The formation of a single γN phase on the nitrided surfacee has been confirmed unambiguously by TEM observation, as shown in Fig.3. The electron diffraction pattern of the γN phase showed a [251] zone without any superlattice spots. This means no presence of the other nitrogen-containing relative phases, such as nitrogen-induced h.c.p. martensites (εN ´ and εN ), ordering γ´phase, CrN, and α´phase. （Take from X.M. Zhu, M.K. Lei. Surface and Coatings Technology, 2000.）ABC20．文中采用了多种现代分析技术研究分析了1Cr18Ni9Ti奥氏体不锈钢经等离子体源离子渗氮后表层成份和组织结构，证实在给定条件下渗氮层组织为A. γ´B. γNC. γ＋γND. γ＋γ´＋γN21．20小题结论的最佳判据为A. Fig.2B. Fig.3(a)C. Fig.3(b)D. Fig.322．γN相是一种A. 面心立方无序固溶体B. 面心立方有序固溶体C. 体心立方无序固溶体D. 体心立方有序固溶体23．文中测试方法的最佳替代方案为A. 俄歇电子能谱仪＋X射线衍射仪＋扫描电镜＋能量分散谱仪B. X射线光电子能谱仪＋X射线衍射仪＋透射电镜＋选区电子衍射C. X射线光电子能谱仪＋透射电镜＋选区电子衍射＋能量分散谱仪D. 俄歇电子能谱仪＋X射线光电子能谱仪＋透射电镜＋选区电子衍射24．掠射X射线衍射仪是一种用于薄膜分析的附件，X射线以较小的角度投射到试样表面，入射线与试样表面的夹角称为掠射角，掠射角一般取0.5︒~10︒。
文中Fig.2采用掠射的目的是A. 减小测试深度B. 降低衍射强度C. 缩小平面内测试范围D. 减小2θ角采用X 射线衍射仪法精确测定金属钽的粉末X 射线衍射花样的sin 2θ值如下：0.11265, 0.22238, 0.33155, 0.44018, 0.54825, 0.65649, 0.76312, 0.87054, 0.87563, 0.97826, 0.98335；入射X 射线波长（Cu 靶）为： λK α1＝0.15405nm ，λK α2＝0.15443nm 。