包装完整性试验报告
产品名称：
申报人：
一、目的
验证xxx包装的完整性，确定在其运输储存条件下不会对其主机造成任何影响，保证使用者的安全和临床应用中检测的准确性。
二、包装结构
申报产品采用三层包装，最内层为塑料薄膜，主要目的是为了防水、防潮；最外层为纸质包装箱，起方便运输与基本防护作用；中间层为泡沫，起缓冲作用，产品的运输、贮存条件应符合包装上的标识要求。
包装示意图如下：
包装尺寸说明：
包装上壳 227*127*60 厚度为3MM，材质瓦楞。
包装内衬 213*113*48 材质为EVA。
包装下壳220*120*57厚度为3MM，材质瓦楞。
包装运输标志:
三、包装件分类
包装件按照包装件重量和包装形式分为以下三类：
四、运输包装件标示
如果有加工接缝，标识人员正对包装箱接缝处一侧，使接缝处于标识人员右侧，标识原则如下：面的标识方法：正常放置，顶面为1面，底面为3面，右侧面标识为2面，左侧标识为4面，正对标识人员的端面为5面，对面为6面；
棱的标识方法：棱的标识方法采用构成该棱的两个面的标号进行标识，例如面1和面2相交构成的棱标识为棱1-2；
角的标识方法：角的标识方法采用构成该角的三个面的标号进行标识，例如面2、面3和面5相交而成的角标识为角2-3-5；
如果没有加工接缝，将包装箱含有最短边的任意一面正对标识人员按照上述方法进行标识。
如图所示：
五、试验项目及方法
5.1、跌落试验
5.1.1、试验目的
为了验证产品在搬运期间遭到跌落后产品性能的稳定性。
5.1.2、试验条件
a、跌落表面应该是混凝土制成的平滑、坚硬的刚性表面；
b、跌落区内有无杂物，确保跌落范围内地面清洁；
5.1.4、跌落高度
注：W指整箱毛重,H箱跌落前最低点离地点的距离。
跌落高度是指样品最低点与冲击台面的距离，实际跌落高度与预定跌落高度相差不超过±2%。
5.1.5、试验状态
按以下预定状态，释放试验样品：
a、面跌落时，样品的跌落面与水平面面之间的夹角误差最大不超过2°；
b、棱跌落时，跌落棱与水平面间夹角误差不超过2°；
c、角跌落时，跌落角与水平面夹角误差不超过5°；
d、无论何种状态和形状的样品，都应使试验样品的重力线通过被跌落的面、线、点。
5.1.6、试验程序
a、试验样品数量要求：1-2箱；
b、试验样品为已经打包装箱的成品机，必须对产品外观及功能进行全检，保证外箱封箱胶纸牢固、外箱无损坏。
c、将包装件进行标识，标识方式如下：包装箱正常放置，顶部为1面，底部为3面，纸箱结合处的最小面（木箱，大型运输包装件最小宽度面）面向自己，该面为5面，对面为6面，纸箱结合处的较大面为2面，对面为4面；
d、抬高试验样品，依照规定的跌落高度、在指定的跌落区域让试验样品进行自由垂直跌落，不能施加任何外力。
e、取一角、二棱、三面，按照上述要求进行试验，跌落次数为1次；
5.1.7、试验报告
详见附件1。
5.2、堆码试验
5.2.1、试验目的
为了验证产品在运输、存储期间堆码后外箱承载能力大小对产品外包装的影响。
5.2.2、试验条件
水平表面应该是平滑、坚硬的刚性表面。
5.2.3 包装材质
a、种类
按《GB/T 6543-2008》中表1，根据内装物最大质量和最大综合尺寸，和预计的储运流通环境条件（本产品，运输批量较小，大中城市相对集中，流通环境较好）选择2类瓦楞纸箱。
b、选型
我公司的外包装纸箱采用的是瓦楞纸箱。
它的耐压强度较高，承受能力强，弹性好，形状恢复力强，粘接强度和胶粘剂用量适中，在制楞过程中不易磨损，芯纸的瓦楞楞峰少被压溃，是目前广泛采用的楞形。
我公司外包装的瓦楞纸板采用AB型组合楞形，外层为B型，抗冲击性能好，具有很好的缓冲性能，AB型的组合能够很好地保护产品在运输过程中不受损伤。
c、瓦楞抗压强度
根据瓦楞纸箱供应商给出，瓦楞纸箱的抗压强度为1000N，根据瓦楞纸箱的抗压强度计算公式：P=K∗G H−ℎ
ℎ
∗9.8
式中：
P——抗压强度值，单位为牛顿（N）；
K——强度安全系数；见表1
G——瓦楞纸箱包装件的质量，单位（kg）;
H——堆码高度，单位（mm）;
h——瓦楞纸箱高度，单位（mm）;
表1
注：强度安全系数（K）根据纸箱所装货物的储存器和储存条件决定的。
故此我公司选择最大的劣变系数2；
我公司堆码高度：H=P∗h
K∗G∗9.8+ℎ=1000∗60
2∗0.4∗9.8
+60=7713mm
则外包装堆码数为：n=H
ℎ=366
60
=128
5.2.4 试验结论
结论：根据以上计算结果,确定电子设备产品的运输包装堆码层数极限为5箱，这是安全保险的，因此，本公司选择的外包装能够保证产品在运输过程中的安全，确保产品在运输后的完整。
5.3、振动试验
参照注册检验报告-振动试验。
六、验证结果及试验报告：
所有试验结束后，拆开包装，仪器正常通电，按照《电子设备技术要求》进行性能测试，每项功能连续测试三次并记录。
（详见附件2）
附件1：
跌落实验报告
试验说明：通过以上实验，自200mm高度从每个方位跌落对包装无破坏性影响。
附件2：
1.外观
1.1电子设备外壳应整齐美观，表面整洁，色泽均匀，无伤斑，裂纹等缺陷；
1.2电子设备面板应无涂复层脱落、锈蚀、面板上文字和标志清晰可见；
1.3电子设备的塑料件应无起泡、开裂、变形以及灌注物溢出现象；
1.4电子设备的控制和调节机构应灵活可靠，紧固部位应无松动。
结论：样机合格。
2.性能
根据电子设备产品技术要求第2.4性能要求章节进行测试，使用一台样机进行测试，每台样机测试三次，记录结果。
2.1动态输入范围
对于叠加了±300 mV直流偏置电压，以125 mV/s的速率变化的，幅度为10 mV（峰-谷值）（当增益设置为5 mm/mV）的差模电压，数字记录仪应具备响应和显示的能力。
时变输
2.2输入阻抗
对于所有的通道，在规定的测试频率下输入阻抗应高于10MΩ。
在规定直流偏置范围内
2.3共模抑制
对于网电源频率下的正弦信号，共模抑制至少为60 dB，对于2倍网络电源频率的信号
2.5 定标信号
2.6系统噪声
所有输入端通过一个51 kΩ电阻和47 nF电容的阻容并联网络串接各患者电极时，等
2.7频率响应
设备应满足以下要求：
a）对记录仪施加一个3 mV 100ms的方波脉冲后的基线与脉冲出现前的基线之间的偏移不应超过0.1mV，脉冲终点后的斜率应不超过0.3 mV/s，脉冲边缘的过冲应小于10%；或b）对于频率在0.05 Hz～40 Hz之间的正弦信号，其响应幅度应在5 Hz时响应幅度的140%与70%之间（+3dB～-3dB）。
c）对用于模拟一系列R波窄波的1.5 mV 40 ms三角波脉冲群的响应幅度应在对1.5 mV 200 ms三角波脉冲群响应幅度的60%~110%之间。
b)
c)
2.8最小检测信号
当走速设为25mm/s,增益设为10mm/mV时，施加一个10Hz，50uV（峰-谷值）正弦信号，应能够产生一个明显可见的偏转。
结论：可见一个明显的偏转。