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第1节 偏光显微镜
5．校正偏光镜方向
找一块黑云母，置于视域中心 旋物台，使解理缝为左右方向 旋动下偏光镜使其颜色最深， 此时的下偏光镜为PP方向 取下薄片，推入上偏光镜，使 视域全黑。则上下偏光镜正交
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矿物和岩石(包括人造岩石)需要将试样磨制成薄片进行观察 薄片是由很薄的矿片、载玻璃片和盖玻璃片组成，矿片的顶 部与底部都涂有树胶 载玻片25×75㎜，厚约1.5㎜) 矿物厚度0.03㎜ 盖玻璃15×15到20×20㎜，厚0.17㎜)
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第1节 偏光显微镜
三、偏光显微镜的调节与使用
1．装卸镜头
装目镜：直接插上即可 装物镜：物镜与镜筒的接合类型有弹簧夹型、
销钉型及转盘型。注意安装到位
2．调节视域亮度
镜头装好以后，推出上偏光，勃氏镜，打开锁
光圈，转动反光镜对准光源，调节视域亮度。
光线不要太强
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第1节 偏光显微镜
镜座：承受重力 镜臂：装镜筒，可倾斜 载物台：承载观察物，可转动，有0～360度
刻度及游标、固定螺丝，中央圆孔，弹簧夹
2、光学部分:
反光镜：有平、凹两面，光线弱或用高倍物
镜时用凹面
下偏光镜：将自然光转变为偏光 锁光圈：调节进光量的大小 聚光镜：将平行光线变为锥光 镜筒：可调节升降，上接目镜，下接物镜，
镜筒光学长度为物镜后焦到目镜前焦
目镜 上偏光镜：方向AA，垂直下偏光镜 勃氏镜：观察锥光时使用的放大系统
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第1节 偏光显微镜
3、物镜：
由1～5片透镜组成。透镜孔越小，镜头越长，放大倍数越大 放大倍数低倍4X，中倍10X-25X，高倍45X以上，油浸100X 光孔角：前透镜最边缘的光线与前焦点所构成的角度
树胶n 矿物N 首 页
树胶n
矿物N
树胶n
矿物N
N=n
N>n
N<n
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
3．突起及闪突起
晶体薄片中不同的晶体表面好象高低不一的现象称为突起 这是一种视觉的错觉，实际中薄片中的晶体切面是一样高的。 突起由树胶与晶体的折射率差引起，折射率大表面看起来高 原因在于折射率大光线偏折度大，使人感觉晶体表面抬高 晶体折射率大于树胶时为正突起，小于树胶时为负突起。
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
多色性： 每一主轴面都显示两种颜色 平行光轴面多色性最明显，垂直光轴面只显示Nm的 颜色 其他切面介于二者之间 测定多色性时要在定向切面上进行
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电气石多色性
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
四、贝克线、糙面、突起及闪突起
这些性质主要与薄片中相邻物质间 由于折射率不同发生折射、反射所 引起的光学现象有关
光线交汇点即亮线
F2 F1
r
i
N
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
（1)贝克线产生的原因
引起贝克线的两介质接触四种情况（N折射率大，n折射率小） B、n盖于N之上，接触界面较陡
因N>n，入射角大于临界角，光线发生全反射，向N方向偏折。 移动情况同A
光线交汇点即亮 线
F2 F1
n
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贝克线的灵敏度很高
用白光照明，两介质折射率差0.001即可见贝克线 用单色光照明时，灵敏度可提高到0.0005 用贝克线的移动规律很容易判断两相邻介质的折射率 的高低 为看清贝克线，要缩小光圈，将界面移到视域中心， 移开聚光镜。
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
2．糙面
第3节 正交偏光镜下的晶体光学性质 1．正交偏光之间光的传播
（1）光线的传播路径 自然光→ 下偏光镜 晶体薄片
（振动方向PP） （产生双折射）
→ →
上偏光镜 （振动方向AA） →
干涉→
目镜
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第3节 正交偏光镜下的晶体光学性质
（2）光程差 NgNp在晶体中的不同方向振动，其传播速度也 不同。Vp速度大，称为快光。Vg速度小称为慢 光。 VgVp两束偏光通过薄片后产生光程差（以R表
磨制薄片的磨料一般为金刚砂(SiC)及刚玉粉(Al2O3) 等。 疏松的标本，需先浸在树胶中煮过，加以粘结，再切 成薄片
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
• 单偏光镜下观察晶体光学性质的内容 单偏光镜下观察，即只使用下偏光镜 观察内容有 晶体形态、解理 突起、糙面、贝克线 颜色与多色性 晶体颗粒大小、百分比含量。
贝克线
1．贝克线 在两个折射率不同的介质接触 处的暗边缘，称为矿物轮廓 轮廓线附近的一条明亮的细线， 升降镜筒时发生移动，称贝克 线
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
（1)贝克线产生的原因
引起贝克线的两介质接触有四种 情况（N折射率大，n折射率小）
A、n盖于N之上，接触界面较平缓 光线能透过界面向折射率大的介 质方向偏折（N>n，入射角小于 反射角），光线在N侧加强 提升镜筒，亮线向N侧移动 n
单偏光镜下观察晶体表面的粗糙呈麻点状现象，称糙面 糙面产生的原因 矿物表面的凹凸不平，覆盖在晶体上的树胶的折射率 与晶体折射率有差异，当光线通过二者接触面时，发 生折射甚至全反射，至使薄片中晶体表面光线集散不 一，而形成明暗程度不同的斑点 糙面产生的必要条件： 矿物本身表面不平 矿物与树胶间存在折射率差
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
一、晶体形态 晶体形态相关因素： 晶体依一定的结晶习性生成一定的 形态 矿物的形态、大小、晶体的完整程 度与形成条件、析晶顺序有关 1．晶形
薄片中所见为晶体的某一切面，同一晶体 切面方向不同，反映出的平面形态完全不 同。
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2．晶体的自形程度 依晶体的边棱的规则程度分 类 A.自形晶：晶形完整，呈规 则多边形，边棱为直线。
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
2．解理的完善程度分级
极完全解理：细密连贯直线缝 完全解理：较粗的平直缝，但不完全连贯
不完全解理：断续解理缝，勉强能看清成
一个方向。
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角闪石完全解理
黑云母极完全解理
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
3．解理角的测定 选择合适的解理缝：有同时 垂直切面的两组解理的晶体 颗粒，即两组解理都最清楚， 升降镜筒都不移动 使一组解理平行目镜的十字 丝的竖线，记下物台的刻度 数a 旋转物台，使另一组解理平 行目镜的十字丝的竖线。记 下计数b。 两组计数之差(a-b)即测的两 组解理的夹角。
析晶早结晶能力强，物化环境适合晶体 成长，便形成自形晶
B.半自形晶：晶形较完整， 部分晶棱为直线，部分为 不规则的曲线半自形晶往往是析
晶较晚的晶体
C.他形晶：不规则粒状，边 棱为曲线
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他行晶是析晶最晚或温度下降较快时析 出的晶体
自形晶角闪石
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
二、解理及解理夹角的测定 1．解理 解理是沿着一定方向开裂成光滑平面的性质。解 理面、解理的方向、组数、及完善程度是鉴定矿 物的重要依据。 解理缝的清晰程度与矿物和树胶的折射率差值 的大小有关，差值大者解理明显 解理缝的清晰程度及宽度与切片方向密切相关。 当解理缝垂直切面时，缝最窄，最清楚，升降 镜筒时解理缝不左右移动。
多色性：
由于光波在晶体中的振动方向不同，而使矿物的 颜色改变的现象称为多色性。而颜色的浓淡变化 称为吸收性 一轴晶矿物，主要有两个颜色，No与Ne。 电气石（负光性）平行C轴切面短半径Ne||PP ＝紫色 长半径No||PP＝深蓝色。斜交切面为过渡色 No颜色比Ne深，表明No吸收性强，吸收性公式： No>Ne 二轴晶的多色性有三个主要颜色分别与光率体的 Ng,Nm,Np相当
r i
N
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
（1)贝克线产生的原因 引起贝克线的两介质接 触四种情况（N折射率 大，n折射率小） C、N盖于n之上，光线总 是能透过界面向N方向 偏折（因N大于n，入 射角小于反射角）
光线交汇点即亮线
F2 F1
n
N
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
（1)贝克线产生的原因
第四章 偏光显微镜下的晶体光学性质 第1节 偏光显微镜 第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
第3节 正交偏光镜下的晶体光学性质
第 4节 第 5节 第 6节 第 7节
锥光镜下的晶体光学性质 透明矿物的系统鉴定 油浸法测折射率值 矿物颗粒大小及含量的测定
第1节 偏光显微镜
一、偏光显微镜的构造 1、机械部分:
双折射率较大的光性非均质体，在单偏光镜下旋转物台时， 突起情况发生明显变化，称为闪突起，它与晶体的双折射率有关。
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第3节 正交偏光镜下的晶体光学性质
正交偏光镜即上下偏光镜一起使用，且使上下偏 光镜的振动方向相互垂直。 PP代表下偏光振动方向，AA代表上偏振动方向。 并使上下偏光镜的振动方向与目镜的十字丝一致 在正交偏光镜下无薄片时视域应是全黑的 正交偏光镜下观察的内容有：干涉、干涉色级序、 双折射率、消光、双晶、测定消光角、延性符号 等
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a b
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第2节 单偏光镜下的晶体光学性质
三、颜色与多色性 1．颜色 矿物对白光中不同波段选择性吸收的结果
光波透过薄片，总要被吸收一部分；若均匀吸收， 则仅有强度减弱，薄片为无色矿物