11
每个子组代表一段时间的过程操作，大的子组容量可能会有不利之处
12
不相同子组容量的变化最好±25%之内
13
如果子组容量足够大，就能够获得下控制限，可以发现由于改进造成的可查明原因
14
步骤二：确定分组频率
分组频率应根据产品的周期确定，以便帮助分析和纠正发现的问题
15
时间间隔短则反馈快，但或许与大的子组容量的要求相矛盾
对过程的普通原因进行改善后
31
合格品率
32
在临界值以上（或以下）产品的比率
33
不良率控制图的一般判定结果
在特定分类中的产品比率
34
在临界值以上（或以下）产品的比率
35
正常运行时间的比率（设备）
36
不良率控制图界限的更新
进行初始过程研究时
37
对过程能力进行重新评价时，现有过程出现失误
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样本容量改变时
39
工艺流程发生变化时
40
6
第一次使用p图时，没有上下限的控制线，只可作为初始研究；第二次使用时可以从第一次中获得上下限的控制线
7
p图为计数值，分布为二项分布
8
不良率控制图建立步骤
步骤一：选择子组容量
子组容量可以相同也可以不相同
9
为确保能检验出产品性能的变化，一般要求子组容量在50～200或更多
10
对于可分析的p控制图，一般要求子组容量能够包含3以或更多的不合格
18
步骤五：合格率描绘在控制图上
描绘每个子组的p值，将这些点连成线有助于发现异常图形和趋势
19
当点描完后，先确认一20
记录过程的变化或可能影响过程的异常情况。当发现这些情况时，必须在控制图上记录
21
步骤六：计算单值及单值的均值
单值： ； =被检查零件的数量，
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步骤三：确定子组的数量
收集数据的时间应足够长，以便能找到所有可能过程的变差源
一般情况下，应包括25个或更多的子组，以便很好地检验过程的稳定性
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步骤四：选择p控制图的坐标刻度
一般不合格率作为纵坐标，子组（小时、天等）作为横坐标。
纵坐标的刻度从0到初步研究数据读数中最大的不合格率的1.5～2倍的值，便于落点
检查表：
编号
检查内容
1
不良率控制图的使用场合
p控制图是把被检查的零件或项目记录成合格或不合格，通过产品不合格率的变化来控制质量的
2
p控制控制的对象可以是不良品率、良品率、废品率、缺勤率和差错率
3
样本数可以相同也可以不相同
4
p控制图出现异常时，比较难以找出异常的原因
5
p控制图必须选择重要的检查项目，作为判断不良品的依据
统计过程控制（SPC）之不良率控制图的使用及建立
定义/说明/要求/目的：
不良率（p）控制图是计数控制图，p控制图是把被检查的零件或项目记录成合格或不合格，通过产品不合格率的变化来控制质量。
p控制图在使用之前应消除不必要的外部变差的原因，在不使用p图之前就能消除明显的问题。
控制限是基于近似的正态分布，故使用的样本容量应该使 。
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单值的均值： ；k=子组的数量；
；如果所有的 相等
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步骤七：计算控制界限
控制中线：
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控制上限：
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控制下限：
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样本n恒定时
控制上限：
27
控制下限：
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样本容量发生变化时
如果： ，则控制限不变
控制上限： ； =样本容量的均值
控制下限：
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不良率控制图的使用例子
首次合格(FTQ)结果
30
不合格品率