电子元器件检验规范标准书
检验时,必 须佩带静电
带。
二极管类型
检 测方法
选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED 需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极
LED
管不合格。
注:有标记的一端为负极。
可编辑
精品
其它二极管 备注
选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于 1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。 注:有颜色标记的一端为负极。
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
《LCR 数字电桥操作指引》 5. 参考文件
《数字万用表操作指引》
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验 数量检验 外观检验 电性检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是 否都
c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;
MA
d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超
过 0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;
e. Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;
f. 元件脚弯曲,偏位, 缺损或少脚,均不可接受;
目检或 10 倍以上 的放大镜
检验时,必须佩 带静电带。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允 收 水 准 (AQL)
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
目检
检验时,必
c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;
MA
10 倍以上的放 须佩带静电
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其 面积不超过
大镜
带。
0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;
e.Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR 测试仪 数字万用表
受。
目检 点数
a. 极性等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受; b. 电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受; MA c. 本体变形,破损等不可接受; d.Pin 生锈氧化,均不可接受。
目检
a.Pin 上锡不良,或完全不上锡不可接受。(将 PIN 沾上现使 用
MA
之合格的松香水,再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿起观看 PIN
实际操作
是否 100%良好上锡;如果不是则拒收)
每 LOT 取 5~10PCS 在 小锡炉上验
证上锡性
MA
a. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。
卡尺
若用于新的 Model,需在 PCB 上对应的 位置进行试插
可编辑
电性检验
精品
MA
a. 电容值超出规格要求则不可接受。
用数字电容表 或 LCR 数字电 桥测试仪量测
精品
电子元器件检验规范标准书
修订
修订
日期
单号
2011/03/3 0
/
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页次 版次 修订
4 A/0
/
审核
批准
/
/
批准:
审核:
编制:
可编辑
精品
部分电子元器件检验规范标准书
IC 类检验规范(包括 BGA)
1. 目的
作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有 IC(包括 BGA)之检验。
MA
正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。
目检
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受; MA
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检 点数
a.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;
b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;
2. 适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允 收 水 准 (AQL)
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件
《LCR 数字电桥操作指引》、 《数字电容表操作指引》。
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。
目检
数量检验
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检 点数
外观检验
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;
b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;
(五) 晶体类检验规范
1. 目的
作为 IQC 人员检验晶体类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所用晶体之检验。
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验 数量检验 外观检验 可焊性检验 尺寸规格检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是
MA
否
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
备注:凡用于真空完全密闭方式包装的 IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC 仅进行包装检验,并加盖免 检印章;该 IC 在 SMT 上拉前 IQC 须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 20%RH 对应的位置有没有变成粉红 色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
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精品
(三) 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)
1. 目的
便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。
2. 适用范围 适用于本公司所有贴片元件(电容,电阻,电感…)之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允 收 水 准 (AQL)
抽样计划说明:对于 CHIP 二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每
操作指引" 和"
盘中取 3~5pcs 元件进行检测;AQL 不变。检验方法见"LCR 数字电桥测试仪
数字万用表操作指引"。
(四) 插件用电解电容.
1. 目的
作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。