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电子元器件材料检验规范标准书
观
空泡&分层
MA
a.空泡和分层完全不允许。
目检 目检
备注
外 观
外 观
丝 印
焊锡性 金 手 指 金 手 指
板角撞伤
章记
尺寸
板弯&板翘 板面污染 基板变色 文字清晰度 重影或漏印
印错 文字脱落 文字覆盖 锡
垫 Model No.
焊锡性 G/F 刮伤 G/F 变色
G/F 镀层剥离 G/F 污染 G/F 凹陷 G/F 露铜
MA
MA
MA
MA MA MA Minor MA MA MA
a. 因制作不良或外力撞击而造成板边(角)损坏时,则 依成型线往内推不得大于 0.5mm 或板角以 45 度最大
值 1.3mm 为允收上限。
目检及带刻 度放大镜
a. 焊锡面上应有制造厂之 UL 号码、生产日期、Vendor Mark;生产日期 YY(年)、WW(周)采用蚀刻方 式标示。
c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;
MA
10 倍以上的放 须佩带静电
d. 元 件 封 装 材 料 表 面 因 封 装 过 程 中 留 下 的 沙 孔 , 其 面 积 不 超 过
大镜
带。
0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;
e.Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;
电性检验
MA
密贴长度约 25mm,经过 30 秒,以 90 度方向垂直拉起,
不可有脱落或翘起之现象。
目检
MA
a. 金手指不可沾锡、沾漆、沾胶或为其他污染物。
目检
a. 金手指凹陷、凹洞见底材或铜面刮伤,不得在金手
MA
指中间 3/5 的关键位置,唯测试探针之针点可允收,
放大镜
凹陷长度不可超过 0.3mmMAX。
7. 检验标准定义: 检验项目 缺点名称
缺点定义
检验标准
检验方式
线路凸出
MA
a. 线路凸出部分不得 大于成品最小间距 30%。
带刻度放大镜
a. 两线路间不允许有残铜。
残铜
MA
b. 残铜距线路或锡垫不得小于 0.1mm。
带刻度放大镜
线
c. 非线路区残铜不可大于 2.5mm×2.5mm,且不可露铜。
线路缺口、凹
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
《LCR 数字电桥操作指引》 5. 参考文件
《数字万用表操作指引》
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验 数量检验
外观检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是 否都正
MA
确,任何有误,均不可接受。
3
生效时间
4 生效时间
5 生效时间
(一) PCB 检验规范
1. 目的 2. 适用范围 3. 抽样计划 4. 职责
作为 IQC 检验 PCB 物料之依据 。 适用于本公司所有之 PCB 检验。 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。 供应商负责 PCB 品质之管制执行及管理,IQC 负责供应商之管理及进料检验。
MA
a.金手指上不可有铜色露出。
放大镜
8. 板弯、板翘与板扭之测量方法 8.1. 板弯:将 PCB 凸面朝上,放置于平板玻璃上,用塞规测量其凸起的高度。(如图一)
8.2. 板翘与板扭:将 PCB 翘曲面朝上,放置于平板玻璃上,用塞规测量其翘起的高度。 (如图二)
(二)IC 类检验规范(包括 BGA)
(三) 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)
1. 目的
便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。
2. 适用范围 适用于本公司所有贴片元件(电容,电阻,电感…)之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允 收 水 准 (AQL)
目检
a. 镀层不可有翘起或脱落现象且焊锡性应良好。用供
MA
应商提供的试锡板分别过回流炉和波峰焊,上锡不良
的点不可大于单面锡垫点数的 0.3%。
目检
MA
a.金手指不可有见内层之刮伤。
放大镜
MA
a.金手指表面层不得有氧化变色现象。
目检 放大镜
a. 以 3M scotch NO.600 0.5"宽度胶带密贴于 G/F 镀层上,
目检
防焊异物
Minor
a. 防焊面不可沾附手指纹印、杂质或其他杂物而影响外 观。
目检
a. 不伤及线路及板材(未露铜)之防焊刮伤,长度不可大
防焊刮伤
MA
于 15mm,且 C/S 面不可超过 2 条,S/S 面不可超过 1
目检
防
条。
a. 补漆同一面总面积不可大于 30mm2,C/S 面不可超过 3
焊
处;S/S 面不可超过 2 处且每处面积不可大于 20mm2 。
b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。
目检
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受; MA
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检 点数
a.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;
b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;
目检
检验时,必
带刻度放大镜
备注
线路变形 线路变色 线路剥离
补线
板边余量
刮伤
孔塞
孔
孔黑
变形
PAD,RING 锡垫缺口
MA
a. 线路不可弯曲或扭折。
放大镜
MA
a. 线路不可因氧化或受药水、异物污染而造成变色。
目检
CR
a. 线路必须附着性良好,不可翘起或脱落。
目检
a. 补线长度不得大于 5mm,宽度为原线宽的 80%~100%。
MA
a. 孔内不可有锡面氧化变黑之现象。
目检
MA
a. 孔壁与锡垫必须附着性良好,不可翘起,变形或脱落。
目检
a. 锡垫之缺口、凹洞、露铜等,不得大于单一锡垫之总
MA
目检、放大镜
面积 1/4。
检验项目 缺点名称 缺点定义
检验标准
检验方式
备注
检验项目 缺点名称 缺点定义
检验标准
检验方式锡垫氧化MAa. 锡垫不得有氧化现象。
5. 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验 数量检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR 测试仪 数字万用表
检验时,必 须佩带静电
带。
二极管类型
检 测方法
LED 其它二极管
备注
选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED 需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极 管不合格。 注:有标记的一端为负极。
选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于 1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。 注:有颜色标记的一端为负极。
受。
目检
目检 点数
外观检验
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;
b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;
c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;
MA
d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超
过 0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;
e. Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;
目检
a. 四层板及金手指的板子,量板子最厚的部分(铜箔 及镀金处)厚度为 1.60mm±0.15mm,板长和宽分别 参考不同 Model 的 SPEC。
卡尺
a. 板弯,板翘与板扭之允收百分比最大值为 0.5%。
塞规 平板玻璃
a. 板面不得有外来杂质,指印,残留助焊剂,标签, 胶带或其他污染物。
目检
a.基板不得有焦状变色。
抽样计划说明:对于 CHIP 二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每
作指引" 和"
盘中取 3~5pcs 元件进行检测;AQL 不变。检验方法见"LCR 数字电桥测试仪操
数字万用表操作指引"。
(四) 插件用电解电容.
1. 目的
作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。
5. 允 收 水 准 (AQL)
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
6. 参考文件
1. IPC – A - 600E, Acceptability of Printed Circuits Boards. 2. IPC – R -700C, Rework Methods & Quality Conformance.
目检
a. 所有文字、符号均需清晰且能辨认,文字上线条之中 断程度以可辨认该文字为主。
目检
a.文字,符号不可有重影或漏印。
目检
a.极性符号、零件符号及图案等不可印错。
目检
a.文字不可有溶化或脱落之现象。
目检 异丙醇
MA
a.文字油墨不可覆盖锡垫(无论面积大小)。
目检
MA
a. MODEL NO 不可印错或漏印。