α
θ1
θ0
β
3.4 可靠性鉴定验收试验（2、3）

（2）元器件试验方案 GB1772《电子元器件失效 率试验方法》

GJB899《可靠性鉴定验 收试验》（GB5080）3.2 可 靠性鉴定试验
，，1，D

（3）整机设备试验方案 给定：级别K、、拒收数C
查表确定：T（元件小时）
查出T、C 由T= n t；确定 n， t 确定 n,C 取n个 产品，进行 t 小时试验 出现故障 r 出现 r 个故障 r < c,合格 rc,合格

λ A
BCLeabharlann t 分类 检查性（镜检、红外、射线） 密封性（浸液、氦质谱、氪 85、湿度等） 寿命筛选（高温贮存、功率 老化、高温反偏） 环境应力（ESS） 理论模型：分布截尾、应力 强度干预、老练 筛选、失效模式 法等。
3.2(2) ESS试验方法

可靠性试验１
２. 可靠性试验
可靠性试验
环境试验
筛选试验
增长试验
鉴定验收试验
寿命试验
天然 组合 综合 筛选 暴露 环境 环境
环境应力 筛选
鉴定 验收
步进 序进
3.3 环境试验



分类：气候环境、机械环境、 电应力、辐射、生物等。 标准：[1]GJB150《军用设备环 境试验方法-M810F [2]GB2423《电工电子 产 品环境试验规程》I68 [3]GJB360《电子电气 元 件试验方法》-M202 试验项目：盐雾、潮热、霉菌、 太阳辐射等。

项目经理用可靠性大纲..\02年昆明讲课
40h--80h
5--15min
末测（测试、比较、评价）
(应有5min-40h无故障)
3.2(3) ESS指南（定量）



要求：筛选结果与可靠性指标和成本阀值建立定量关系 标准：GJB/Z 34《电子产品定量筛选指南》（M.S--344） 理论模型：DR=DIN（1-SSDE） DR--可靠性目标等效值 ； DIN--缺陷引入密度（与元器件和工艺有关）； SS---筛选度（与筛选应力类型及应力参数有关） DE--检测效率（与筛选级别、方式、产品类型以及检 测仪器有关）
案例5－ “神州3号”运算放大器内部气氛含 量分析结果表
内部气氛
氮气(%) 氧气(%)
水汽 (ppmv)
1# 76.9 15.3 50000 1641 300
2# 78.6 14.5 42000 1799 219 1.59
3# 77.1 14.6 53100 2623 263 1.84
4# 78.9 15.4 36700 1420 167 1.02
VS MIL-HDBK-810F
899-90 VS GJB 150-86
3.2 可靠性鉴定试验

风险与统计试验方案3.4 可靠性鉴定验收试验 （1） 置性度与统计检验结果 可靠性鉴定试验结果与故障处理—工程案例 技术状态控制与试验前评审 试验中的FRACAS系统



可靠性验收试验的工程处理方案
失效，导致发射推迟。抽取该批产品进行内 部水汽含量测试和开帽镜检。发现内部水汽 含量严重超标，5只样品的内部水汽含量平均 达到44960ppmv；部分样品在内引线键合点处 有腐蚀现象，或键合点已经断开。测试分析 结果为专家组作出“批次性问题”的结论提 供了技术依据。
内部气氛分析仪
主要作用： 密封器件内部气体 成分分析
r > c,不合格
r c，不合格
3.5 可靠性筛选试验强应力ESS 实例.ppt

环境应力筛选
－GJB 1032 3.2 筛选试验（1） GJB1032.doc

定量环境应力筛选
－GJB/77

筛选与增长
3.2(3)
ESS指南（定量）
3.2 筛选试验（1）

概念 目的：剔除早期失效产品 浴盆曲线： A（早期失效期）、B（偶然 失效期）、C（耗损失效期）

1
理想曲线
计划曲线
跟踪曲线
控制A、B、d、Kλ
目标点（tF、θF） 起点点（tI、θI） 增长率（m） 试验段划分 纠正方式选择 π系数折合 外推预测 延缓预测
图：可靠性增长管理定量控制模式示意图
3.6 增长试验(5)

产品的故障报告、分析与纠正措施系统-
•GJB841-1990 FRACAS
故障报告表 故障分析报告表 故障审查机构 故障纠正报告表
常规应力：温度循环、湿热、热冲击、振动加速度、离心加速度、 机械冲击、低气压等。（三级：模块、组件、整机） 标准：GJB1032《电子产品环境应力筛选试验方法》(M.S--2164) 程序：3.5 可靠性筛选试验
初检（机械、电器性能检测） 筛选
缺陷剔除阶段 振动 温度循环
5min 40h
无故障检测阶段 温度循环 振动
5# 78.4 14.8 43000 2049 229 1.39
苯(ppmv)
丙酮 (ppmv)
二氧化碳 1.64 (%)
三、3.6失效分析典型案例6
XYZ通信装备在五所进行综合环境应力可靠性
试验时，在低温环境中相继出现多只样品失效。 试验分析表明为飞宇公司生产的两种混合IC－ 11通道和八通道逻辑电平转换器(B-HY3、BHY1) 失效引起
XYZ通信电台用进口IC，AT89C52闩锁烧毁
XYZ通信电台进口IC分析后改进建议：
在集成电路的电路插板电源端加接一个
适当的电容或瞬态电压抑制二极管，用 来吸收瞬间的过电压脉冲。对于采用高 内阻电源时更应采取该措施。该措施被 电台研制单位电子十所采用。
三、3.2 失效分析典型案例2

XYZ型机用组件四位PIN数字移相器－开关 组件， 2000年初批量供货后，在进货筛选试 验和上机调试中出现多次失效，成为工程中的 瓶颈问题。
Qualmark公司的 3轴6自由度振动 试验台
常规振动台的台面与振动源 台面 台面下的汽锤
Qalmark公司的 3轴6自由度振动试验台
台面下的9个汽锤
ACIS公司的快速温变箱
制冷技术的发展
温变率30℃/分
温度范围－55℃～＋85℃
文本
文本
文本
3综合“强”应力试验技术
环境试验剖面与应力施加 方式 组合环境试验与综合环境 试验 GJB899《可靠性鉴定与 验收试验》（M781）给出 了许多综合环境试验剖面。 地面固定设备的综合环境 试验剖面示意如下。
温度 应力 振动 应力 电应力
工作 循环
可靠性试验
3.1 可靠性试验总论
可靠性指标鉴定的统计学特性 可靠性试验与评估技术 可靠性试验的应力条件 —MIL-HDBK-781 —GJB
温、湿度应力
振动应力 电应力 通断
Qualmark
强 应 力 试 验 箱
快速温变的试验技术的实现
制冷技术的发展
机械制冷 液氮制冷
3综合“强”应力试验技术
温度应力的强化
振动应力的强化 温度＋振动的强化试验 恒定湿热试验与交变湿热 3综合“强”应力试验技术
4. 可靠性管理（2）
案例6－分析结果
两种混合IC的内装晶体三极管的引线键合不
当，引线直径过大、劈刀过粗而芯片上的键 合面积太小，造成键合面积超界跨越C、B或E、 B金属化层，在两极间留下超声键合时铝丝与 芯片表面磨察产生的铝碎屑带，形成极间漏 电或短路。
案例6－改进建议与效果
厂方接纳改进建议，选择与芯片表面键合面
图a 工艺改进前接地孔形貌
图b 工艺改后前接地孔形貌
案例3－分析结果
分析结果表明：该批混合电路键合问题主要
发生在与Au导带的键合点上，但功率芯发射 极采取了双引线并联键合的可靠性冗余设计； 电容器焊接端头会出现裂纹，建议工程上不 用，为上级决策提供了科学依据
三、3.5失效分析典型案例5
“神州3号”飞船发射前发现一支运算放大器
可靠性试验案例1-试验大纲
可靠性试验大纲案例.doc
可靠性试验案例2-试验结果分析
信息产业部电子五所
三、3.1 失效分析典型案例1
XYZ通信电台： 在可靠性鉴定试验中，
加电操作时控制盒无显示，工作电流异 常，换集成电路后正常。原因为加电时 电源输出过冲，电源瞬间电压跳高，导 致器件发生闩锁效应而出现大电流，使 进口集成电路AT89C52被烧毁。属于使 用技术问题。
3.6 增长试验(2)


（2）杜安（Duane）模型 产品的累计失效率与累计试验时间在双对数纸上能拟合成一调直 线。 -因此有： Ln (t)=Ln a-m Ln t 或 Ln (t)=m Ln t-Ln a
r r
（A）双对数纸上
（B）直角坐标系上
3.6 增长试验(4)--增长管理
小子样复杂系统的可靠性评估
3.4 可靠性鉴定验收试验（1）


（1）抽样与统计试验方案 OC曲线： 指数分布 特性：---生产方风险（拒真） ---使用方风险（采伪） 1 --可接受下限值 0-- 可接受上限值 D= 0 /1---鉴别比


统计试验抽样方案 定时截尾试验抽样 方案 序贯试验抽样方案 全数试验抽样方案 成败型试验抽样方 案
程序：
规定 目标
用查表、试验、 推算等方法，求 出缺陷引入密度
确定筛选应力类型与参数 确定筛选级别、方式及仪器设备
3.6 可靠性增长试验(1)
É ¿ ¿ Ð Ô ³ ¼ Ê µ » ±Ä È Ô ö ¤ õ Ä ù ¾ Ú Ý • ¹ ±× Ð Ó × ê ¼ • ±Ë  ù » ¾ ¼ · ù » Ñ ú À ý ¾ Õ TAAF Ö ö ·Î • Ò Ä Ð £ DuaneÄ Ð AMSAAÄ Ð GompertzÄ Ð µ ÷ Ö ª £ Í ¨ £ Í £ Í £ Í È • Ö ¹ À Ä Ê £ ¶ Á ¿ Ö Ó ¹ ³ ¼ ¶ £ ½ Á Ü í £ ½ ¨¨¿ × Æ ë ¤Ì à ½ ©