常用半导体器件
1、掌握各种功能电路的组成原理及其性能特 点,能够对一般性的、常用的电子电路进行分 析,同时对简单的单元电路进行设计。
2、掌握电子技术的基本理论、基本知识、 基本技能,为后续课程打好基础。
3、器件
电路
应用系统
建立新概念。 确立新的分析方法。 重点在于课堂听讲。 注重实验环节,先理论分析,后实践, 然后再对实验的结果进行探讨。 认真复习、练习。
硅原子 多余电子 磷原子
+4 +4 +4
电子空穴对
自由电子
+4
+5 +4
N型半导体 ++ + +
+4
+4 +4
多数载流子——自由电子 少数载流子—— 空穴
++ + + ++ ++
施主离子
2. P型半导体
在本征半导体中掺入三价杂质元素,如硼、镓等。
硅原子
+4
空穴
+4
硼原子
+4
电子空穴对
空穴
+4 +4
半导体二极管的型号
国家标准对半导体器件型号的命名举例如下:
2AP9
用数字代表同类器件的不同规格。 代表器件的类型,P为普通管,Z为整流管,K为开关管。 代表器件的材料,A为N型Ge,B为P型Ge, C为N 型Si, D为P型Si。 2代表二极管,3代表三极管。
一 、半导体二极管的V—A特性曲线
常用半导体器件
是一门电气类专业基础课,为后续课程打基础。
特点:
非纯理论性课程 实践性很强, 定量计算多
以工程的观点来处理电路中的一些问题,抓主 要矛盾,忽略次要矛盾,采用工程近似的方法简化 实际问题,允许有一定的误差(±10%工程误差)
器件:
二极管 三极管
放大电路:
基本放大电路 差分放大电路 集成运算放大电路 负反馈放大电路 功率放大电路
外电场削弱内电场 →耗尽层变窄 →扩散运动>漂移运动
→多子扩散形成正向电流I F
P型半导体 空间电荷区 N型半导体
- - --
++ ++
- - - 正向-电流 + + + +
- - -- ++ + +
动画演示4
内电场 E
EW
R
(2) 加反向电压——电源正极接N区,负极接P区
外电场的方向与内电场方向相同。 外电场加强内电场 →耗尽层变宽 →漂移运动>扩散运动
uO
0
-
U RE F
-
-4V
uo
解:①采用理想二极管
2V
t
模型分析。波形如图所示。
ui
4V
R
2.7V
t
+
I+
0
ui
uO -4V
-
U RE F
-
uo
2.7V
②采用理想二极管串联
t
电压源模型分析,波形
0
如图所示。
三、 二极管的主要参数
(1) 最大整流电流IF——
二极管长期连续工 作时,允许通过二 极管的最大整流 电流的平均值。
1.1 半导体的基本知识
在物理学中。根据材料的导电能力,可以将他们划分导 体、绝缘体和半导体。
典型的半导体是硅Si和锗Ge,它们都是4价元素。
si
硅原子
GGee
+44
锗原子
硅和锗最外层轨道上的 四个电子称为价电子。
(c)
(a) 硅晶体的空间排列 (b) 共价键结构平面示意图
硅原子空间排列及共价键结构平面示意图
PN结加反向电压时,具有很小的反向 漂移电流,呈现高电阻, PN结截止。
由此可以得出结论:PN结具有单向导 电性。
3.PN结的伏安特性曲线及表达式
根据理论推导,PN结的伏安特性曲线如图
反向饱和电流 反向击穿电压
IF(多子扩散) 正偏
反向击穿
反偏 IR(少子漂移)
※ PN结的反向击穿分类:
击穿效果:
(2) 动态电阻rZ ——
△I
rZ =U /I
rZ愈小,反映稳压管的击穿特性△愈U 陡。
I zm a x
(3) 最小稳定工作 电流IZmin——
保证稳压管击穿所对应的电流,若IZ<IZmin则不能稳压。
(4) 最大稳定工作电流IZmax——
(2) 反向击穿电压UBR———
(3) 反向电流IR——
二极管反向电流 急剧增加时对应的反向 电压值称为反向击穿 电压UBR。
在室温下,在规定的反向电压下的反向电流值。 硅二极管的反向电流一般在纳安(nA)级;锗二极管 在微安(A)级。
四、稳压二极管
稳压管是工作在反向击穿区的特殊二极管
(面结型、硅、高掺杂)
三. PN结及其单向导电性
1 . PN结的形成
因多子浓度差 多子的扩散 空间电荷区
形成内电场 阻止多子扩散,促使少子漂移。 内电场E
P型半导体 空间电荷区 N型半导体
- - --
++ ++
- - --
++ ++
- - -- ++ + +
少子漂移电流
耗尽层
多子扩散电流
少子漂移
-
补充耗尽层失去的多子,耗尽层窄,E
束缚电子
+4
+4 +4
+4
+4 +4
空穴
自由电子
+4
+4 +4
当温度升高或受到 光的照射时,束缚 电子能量增高,有 的电子可以挣脱原 子核的束缚,而参 与导电,成为自由 电子。
自由电子产生的 同时,在其原来的共 价键中就出现了一个 空位,称为空穴。
这一现象称为本征激发,也称热激发。 动画演示1
与本征激发相反的现象
P型半导体
- - --
+3 +4
- - --
- - --
+4 +4
受主离子
多数载流子—— 空穴 少数载流子——自由电子
杂质半导体的示意图
多子—空穴
多子—电子
P型半导体
N型半导体
- - --
++ + +
- - --
++ + +
- - --
++ + +
少子—电子
少子—空穴
少子浓度 —— 本征激发产生,与温度有关 多子浓度 —— 掺杂产生,与温度无关
→少子漂移形成反向电流I R
P
空间电 荷区
在一定的温度- 下,- 由-本 - + +
征激发产生的少-子浓-度是- - + +
一定的,故IR基本- 上-与外-加 - + +
反压的大小无关,所以称 内电场 E
为反向饱和电流。但IR与温
度有关。
EW
R
N
++ ++
IR ++
动画演示5
PN结加正向电压时,具有较大的正向 扩散电流,呈现低电阻, PN结导通;
一. 本征半导体
本征半导体——化学成分纯净的半导体晶体。 制造半导体器件的半导体材料的纯度要达到99.9999999%,
常称为“九个9”。物理结构呈单晶体形态。
本征半导体的共价键结构
+4
+4 +4
+4
+4 +4
+4
+4 +4
在绝对温度T=0K时, 所有的价电子都紧紧束缚 在共价键中,不会成为自 由电子,因此本征半导体 的导电能力接近绝缘体。
UREF=2V,输入信号为ui。
(1)若 ui为4V的直流信号,分别采用理想二极管模型、理
想二极管串联电压源模型计算电流I和输出电压uo
解:(1)采用理想模型分析。
R
+
I=ui UREF 4V 2V 2mA
R
1k
ui
uo UREF 2V
-
I+
uO
U RE F
-
采用理想二极管串联电压源模型分析。
1 常用半导体器件 2 基本放大电路 3 多级放大电路
4 集成运算放大电路 5 放大电路的频率响应 6 放大电路中的反馈
7 信号的运算与处理电路 8 波形的发生和信号的转换 9 功率放大电路 10 直流稳压电源
第一章 半导体器件基础
1.1 半导体基本知识 1.2 半导体二极管 1.3 半导体三极管 1.4 场效应管 1. 5 单结晶体管和晶闸管
则有UT=26 mV。
4. PN结的电容效应
(1) 势垒电容CB
当外加电压发生变化时,耗尽层的宽度要相应 地随之改变,即PN结中存储的电荷量要随之变化, 就像电容充放电一样。
P 空间电荷区 N -- ++
-- ++
-- ++
EW
R
(2) 扩散电容CD
当外加正向电压 不同时,PN结两 + 侧堆积的少子的 数量及浓度梯度 也不同,这就相 当电容的充放电 过程。
I=ui UREF-UD 4V 2V 0.7V 1.3mA
R
1k
uo UREF UD 2V 0.7V 2.7V
(2)如果ui为幅度±4V的交流三角波,波形如图(b)所 示,分别采用理想二极管模型和理想二极管串联电压源模