实验3 热辐射成像实验热辐射是19世纪发展起来的新学科，至19世纪末该领域的研究达到顶峰，以致于量子论这个婴儿注定要从这里诞生。

黑体辐射实验是量子论得以建立的关键性实验之一，也是高校实验教学中一重要实验。

物体由于具有温度而向外辐射电磁波的现象成为热辐射，热辐射的光谱是连续谱，波长覆盖范围理论上可从0到∞，而一般的热辐射主要靠波长较长的可见光和红外线。

物体在向外辐射的同时，还将吸收从其他物体辐射的能量，且物体辐射或吸收的能量与它的温度、表面积、黑度等因素有关。

【实验目的】1、研究物体的辐射面、辐射体温度对物体辐射能力大小的影响，并分析原因。

2、测量改变测试点与辐射体距离时，物体辐射强度P 和距离S 以及距离的平方S 2的关系，并描绘P-S 2曲线。

3、依据维恩位移定律，测绘物体辐射能量与波长的关系图。

4、测量不同物体的防辐射能力，你能够从中得到哪些启发？（选做）5、了解红外成像原理，根据热辐射原理测量发热物体的形貌（红外成像）。

【实验原理】热辐射的真正研究是从基尔霍夫（G.R.Kirchhoff ）开始的。

1859年他从理论上导入了辐射本领、吸收本领和黑体概念，他利用热力学第二定律证明了一切物体的热辐射本领r (ν,T )与吸收本领α(ν,T )成正比，比值仅与频率ν和温度T 有关，其数学表达式为： ),(),(),(T F T T r νναν= （3-1） 式中F (ν,T )是一个与物质无关的普适函数。

在1861年他进一步指出，在一定温度下用不透光的壁包围起来的空腔中的热辐射等同于黑体的热辐射。

1879年，斯特藩（J.Stefan ）从实验中总结出了黑体辐射的辐射本领R 与物体绝对温度T 四次方成正比的结论；1884年，玻耳兹曼对上述结论给出了严格的理论证明，其数学表达式为：4T R T σ= （3-2）即斯特藩-玻耳兹曼定律，其中4212/10673.5K cm w -⨯=σ为玻耳兹曼常数。

1888年，韦伯（H.F.Weber ）提出了波长与绝对温度之积是一定的。

1893年维恩（wilhelmwien ）从理论上进行了证明，其数学表达式为：b T =max λ （3-3）式中b ＝2.8978×10-3( m.K )为一普适常数，随温度的升高，绝对黑体光谱亮度的最大值的波长向短波方向移动，即维恩位移定律。

图3-1 辐射能量与波长的关系图3-l 显示了黑体不同色温的辐射能量随波长的变化曲线，峰值波长λma3与它的绝对温度T 成反比。

1896年维恩推导出黑体辐射谱的函数形式： T c T e ac r λβλλ/52),(-= (3-4)式中βα,为常数，该公式与实验数据比较，在短波区域符合的很好，但在长波部分出现系统偏差。

为表彰维恩在热辐射研究方面的卓越贡献，1911年授予他诺贝尔物理学奖。

1900年，英国物理学家瑞利（Lord Rayleigh ）从能量按自由度均分定律出发，推出了黑体辐射的能量分布公式：KT cr T 4),(2λπλ= (3-5)该公式被称之为瑞利·金斯公式，公式在长波部分与实验数据较相符，但在短波部分却出现了无穷值，而实验结果是趋于零。

这部分严重的背离，被称之为“紫外灾难”。

1900年德国物理学家普朗克（M.Planck ），在总结前人工作的基础上，采用内插法将适用于短波的维恩公式和适用于长波的瑞利·金斯公式衔接起来，得到了在所有波段都与实验数据符合的很好的黑体辐射公式：11./51),(2-=T c T e c r λλλ (3-6)式中1c ,2c 均为常数，但该公式的理论依据尚不清楚。

这一研究的结果促使普朗克进一步去探索该公式所蕴含的更深刻的物理本质。

他发现如果作如下“量子”假设：对一定频率ν 的电磁辐射，物体只能以h ν为单位吸收或发射它,也就是说，吸收或发射电磁辐射只能以“量子”的方式进行，每个“量子”的能量为：E = h ν ，称之为能量子。

式中h 是一个用实验来确定的比例系数，被称之为普朗克常数，它的数值是6.62559×10-34焦耳秒。

公式（3-6）中的1c ,2c 可表述为：212hc c π=,k ch c /2=，它们均与普朗克常数相关，分别被称为第一辐射常数和第二辐射常数。

【实验仪器】DHRH-1测试仪、黑体辐射测试架、红外成像测试架、红外热辐射传感器、半自动扫描平台、光学导轨（60cm ）、计算机软件以及专用连接线等。

【实验内容】一、物体温度以及物体表面对物体辐射能力的影响。

1、将黑体热辐射测试架，红外传感器安装在光学导轨上，调整红外热辐射传感器的高度，使其正对模拟黑体（辐射体）中心，然后再调整黑体辐射测试架和红外热辐射传感器的距离为一较合适的距离并通过光具座上的紧固螺丝锁紧。

2、将黑体热辐射测试架上的加热电流输入端口和控温传感器端口分别通过专用连接线和DHRH-1测试仪面板上的相应端口相连；用专用连接线将红外传感器和DHRH-I 面板上的专用接口相连；检查连线是否无误，确认无误后，开通电源，对辐射体进行加热，见图3-2所示。

3、记录不同温度时的辐射强度，填入表1中，并绘制温度-辐射强度曲线图。

注：本实验可以动态测量，也可以静态测量。

静态测量时要设定不同的控制温度，具体如何设置温度见控温表说明书。

静态测量时，由于控温需要时间，用时较长，故做此实验时建议采用动态测量。

表1：黑体温度与辐射强度记录表4、将红外辐射传感器移开，控温表设置在60℃，待温度控制好后，将红外辐射传感器移至靠近辐射体处，转动辐射体（辐射体较热，请带上手套进行旋转，以免烫伤）测量不同辐射表面上的辐射强度（实验时，保证热辐射传感器与待测辐射面距离相同，便于分析和比较），记录表2中。

表2：黑体表面与辐射强度记录表注：光面2上有通光孔，实验时可以分析光照对实验的影响。

图3-25、黑体温度与辐射强度微机测量：用计算机动态采集黑体温度与辐射强度之间的关系时，先按照步骤2连好线，然后把黑体热辐射测试架上的测温传感器PT100II连至测试仪面板上的“PT100传感器II”，用USB电缆连接电脑与测试仪面板上的USB接口，见图3-2所示。

具体实验界面的操作以及实验案例详见安装软件上的帮助文档。

二、探究黑体辐射和距离的关系1、按照实验一的步骤2把线连接好，连线图同图3-2。

2、将黑体热辐射测试架紧固在光学导轨左端某处，红外传感器探头紧贴对准辐射体中心，稍微调整辐射体和红外传感器的位置，直至红外辐射传感器底座上的刻线对准光学导轨标尺上的一整刻度，并以此刻度为两者之间距离零点。

3、将红外传感器移至导轨另一端，并将辐射体的黑面转动到正对红外传感器。

4、将控温表头设置在80℃，待温度控制稳定后，移动红外传感器的位置，每移动一定的距离后，记录测得的辐射强度，并记录在表3中，绘制辐射强度-距离图以及辐射强度-距离的平方图,即P-S 和P-S 2图。

5、分析绘制的图形，你能从中得出什么结论，黑体辐射是否具有类似光强和距离的平方成反比的规律？表3：黑体辐射与距离关系记录表注：实验过程中，辐射体温度较高，禁止触摸，以免烫伤。

三、依据维恩位移定律，测绘物体辐射强度P 与波长的关系图1、按实验一，测量不同温度时，辐射体辐射强度和辐射体温度的关系并记录。

2、根据公式（3-3），求出不同温度时的max λ。

3、根据不同温度下的辐射强度和对应的max λ，描绘P-max λ曲线图。

4、分析所描绘图形，并说明原因。

*四、测量不同物体的防辐射能力（选做）1、分别测量在辐射体和红外辐射传感器之间放入物体板之前和之后，辐射强度的变化。

2、放入不同的物体板时，辐射体的辐射强度有何变化，分析原因，你能得出哪种物质的防辐射能力较好，从中你可以得到什么启发。

五、红外成像实验（使用计算机）1、将红外成像测试架放置在导轨左边，半自动扫描平台放置在导轨右边，将红外成像测试架上的加热输入端口和传感器端口分别通过专用连线同测试仪面板上的相应端口相连；将红外传感器安装在半自动扫描平台上，并用专用连接线将红外辐射传感器和面板上的输入接口相连，用USB连接线将测试仪与电脑连接起来，如图3-3所示。

2、将一红外成像体放置在红外成像测试架上，设定温度控制器控温温度为60或70度等，检查连线是否无误；确认无误后，开通电源，对红外成像体进行加热。

3、温度控制稳定后，将红外成像测试架向半自动扫描平台移近，使成像物体尽可能接近热辐射传感器（不能紧贴，防止高温烫坏传感器测试面板）。

4、启动扫描电机，开启采集器，采集成像物体横向辐射强度数据；手动调节红外成像测试架的纵向位置（每次向上移动相同坐标距离，调节杆上有刻度），再次开启电机，采集成像物体横向辐射强度数据；电脑上将会显示全部的采集数据点以及成像图，软件具体操作详见软件界面上的帮助文档。

图3-3【注意事项】1.实验过程中，当辐射体温度很高时，禁止触摸辐射体，以免烫伤。

2.测量不同辐射表面对辐射强度影响时，辐射温度不要设置太高，转动辐射体时，应带手套。

3.实验过程中，计算机在采集数据时不要触摸测试架，以免造成对传感器的干扰。

4.辐射体的光面1光洁度较高，应避免受损。

【思考题】1.需要测量的是红外光辐射出射度，但采集卡采集到的只能是电压信号。

因该如何给传感器定标呢？【参考文献】1.《DHRH-1热辐射与红外扫描成像装置（实验指导书）》2.安毓敏、刘继芳、李庆辉编，《光电子技术》（第二版），电子工业出版社，2007。